講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-10-23 13:20
[招待講演]微細MOSデバイスのランダム・テレグラフ・シグナル・ノイズ ○須川成利(東北大) ICD2008-75 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2008-75 |
抄録 |
(和) |
微細MOSデバイスで発生するランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)ノイズに関して、大規模アレイTEGを用いて、ゲート絶縁膜材料依存,アンテナ比依存,ソースドレインを入れ替えた際のRTSノイズ,およびゲート高電界ストレスを印加した後のゲートリーク電流とドレインソ-ス電流のRTSノイズの相関を測定したのでその結果について報告する. |
(英) |
For random telegraph signal (RTS) noises generated in small MOS devices, using a large array TEG, a gate insulator material dependence, an antenna ratio dependence, RTS noises when the source is replaced with the drain, and correlations of RTS noises generated by gate leakage current and drain-source current after gate high field stress is applied have been reported. |
キーワード |
(和) |
RTSノイズ / アレイTEG / / / / / / |
(英) |
RTS Noise / Array TEG / / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 253, ICD2008-75, pp. 95-100, 2008年10月. |
資料番号 |
ICD2008-75 |
発行日 |
2008-10-15 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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