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講演抄録/キーワード
講演名 2008-08-28 15:35
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(その2) ~
和田真一園田健人越田圭治菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大EMD2008-41 CPM2008-56 OPE2008-71 LQE2008-40 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-41 CPM2008-56 OPE2008-71 LQE2008-40
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構を用いて,総加振回数が3000万回から4000万回の加振実験を行った.加振開始後,一定の期間を経ると,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.この傾向は実験終了まで持続した.比較として,電気接点に微小摺動を与える摺動機構による,総摺動回数が約1400万回の摺動実験を行った.摺動後20万回後に接触抵抗が上昇しその後,約200Ωとなった.2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.これらの接触抵抗の変動に対してfretting Corrosionモデルを適用し検討することで,本加振機構及び摺動の微小振動が接触抵抗に与える影響についてより現実的に考察できる可能性が示唆された. 
(英) The authors have developed the hammering oscillating mechanism which could give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. By the mechanism the authors made experiments with total operation’s number, 30 or 40 millions. After the term was passed, the contact resistance increased in number to about 200Ω . The tendency continued till the end. On the contrary, by the sliding contact mechanism the authors made experiments with total operation’s number of 14 millions. After starting, the contact resistance increased in number to about 200Ω . Although the two mechanisms are completely different (in methods, numbers, etc ), the results of two measurements were almost similar on the oscillating phenomenon. It was suggested that the mechanism could detect the more real degradation phenomenon on contacts with the influences of micro-vibration by applying the model of fretting corrosion to the fluctuation of contact resistance.
キーワード (和) 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / ハンマリング加振機構 /  
(英) electrical contact / oscillating mechanism / micro-vibration / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / hammering oscillation mechanism /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 191, EMD2008-41, pp. 51-56, 2008年8月.
資料番号 EMD2008-41 
発行日 2008-08-21 (EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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研究会情報
研究会 LQE CPM EMD OPE  
開催期間 2008-08-28 - 2008-08-29 
開催地(和) 東北大学 
開催地(英) Touhoku Univ. 
テーマ(和) 光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2008-08-LQE-CPM-EMD-OPE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗について(その2) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) for Contact Resistance (II) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism  
キーワード(3)(和/英) 微小振動 / micro-vibration  
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(5)(和/英) 摺動接触 / sliding contact  
キーワード(6)(和/英) 摺動機構 / sliding mechanism  
キーワード(7)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillation mechanism  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa /
第6著者 所属(和/英) 慶応大学 (略称: 慶大)
Keio Univ. (略称: Keio Univ.)
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講演者
発表日時 2008-08-28 15:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2008-41,IEICE-CPM2008-56,IEICE-OPE2008-71,IEICE-LQE2008-40 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.191(EMD), no.192(CPM), no.193(OPE), no.194(LQE) 
ページ範囲 pp.51-56 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2008-08-21,IEICE-CPM-2008-08-21,IEICE-OPE-2008-08-21,IEICE-LQE-2008-08-21 


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