講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-07-25 11:35
紙の人工物メトリクスにおける分割照合の利用と耐クローン性 ○小林洋一・坂倉 翔・平良允俊・山越 学・松本 勉(横浜国大) ISEC2008-39 |
抄録 |
(和) |
人工物の偽造対策技術で,偽造者に対する製造者の技術的優位性をセキュリティの根拠としないものとして,人工物メトリクス ― 人工物個体にランダムに生成された特徴からその人工物個体を認証する技術 ― がある.本稿は,紙に光を照射したときの透過光パターンをその紙の固有な特徴とする人工物メトリクスにおいて,精度向上のために有益であることが既に示されている分割照合方式が,耐クローン性の向上にも寄与することを示す. |
(英) |
It is desired to develop excellent counterfeit deterrence techniques for artifacts such as security documents, credentials, banknotes, payment cards, mobile terminals, etc. Artifact-metrics is a type of such techniques which are not based on the technological advantage of the manufacturers of artifacts but authenticate an individual artifact based on some randomly generated intrinsic unique features of the individual artifact. For a class of artifact-metrics with transmitted light patterns of papers, this article reports that, a segmented matching method developed for improving the individuality of such an artifact-metrics can also enhance the clone-resistance of the same artifact-metrics. |
キーワード |
(和) |
人工物メトリクス / 紙の赤外透過光 / 耐クローン性 / 分割照合 / / / / |
(英) |
Artifact-Metrics / Transmitted Infrared Light of Paper / Clone Resistance / Segmented Matching / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 162, ISEC2008-39, pp. 31-36, 2008年7月. |
資料番号 |
ISEC2008-39 |
発行日 |
2008-07-18 (ISEC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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