| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-07-18 14:40 1kV以下のマイクロギャップ放電に伴う放射電磁波強度の実験的検討 ○川又 憲（八戸工大）・嶺岸茂樹・芳賀 昭（東北学院大）・藤原 修（名工大）  EMCJ2008-45 EMD2008-27 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-27 |
|
| 抄録 | （和） | あらまし ESD（静電気放電）あるいは電気接点放電などのうち、おおよそ1000V以下の比較的に低い電圧によって生じるマイクロギャップ放電に着目し、放電開始時の急峻な過渡電圧および電流の立ち上がり時間特性について12GHz帯域での時間領域測定を行った。実験の結果，放電電圧600V以下においては，電圧および電流の立ち上り時間は約30ps以下と12GHzの帯域を越える超高速現象であることを確認した。さらに，これら立ち上がり時間の妥当性を確認するため，放電時の電極間電界強度について検討を行い，放電電圧と電極間の電界強度特性について測定を行った。その結果，放電時の電極間電界は放電電圧の減少とともに上昇し，400V以下の放電においては急激に上昇し，326Vにおける放電で約80MV/mと非常に高い絶縁破壊電界を示すことがわかった。今回は，これらの比較的に低い電圧領域で発生する非常に高い絶縁破壊電界と，電極外部に放射する電磁波強度の関係について実験的に検討を行った。その結果，今回の実験範囲では，放射電磁波強度の平均値は電極間の絶縁破壊電界と比例する関係を確認した。 |
| （英） | Abstract Relationship between breakdown field strength and radiated electromagnetic field strength was examined in experimental study. In the first, transition duration of voltage and current rise time due to small gap discharge as the low voltage ESD investigated in time domain. The measurement system used the 12GHz experimental system. And so, the sensing system was used an E-field sensor and a H-field sensor. As a consequence of the experiment using the system, voltage and current rise time of transition duration were shown 32 ps or less. Besides, breakdown field was examined to corroborate the very fast transition durations of about 32ps. The breakdown field was very high of about 8x107 V/m in low voltage discharging of below 330V. Also we confirmed that the radiated electromagnetic field strength value in low voltage discharge of about 400V was higher than high voltage discharge of about 900V. | |
| キーワード | （和） | 絶縁破壊電界 / 放射電磁界 / ＥＳＤ / 電気接点放電 / マイクロギャップ放電 / / / |
| （英） | Breakdown field / Radiated Electromagnetic field / ESD / Micro gap discharge / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 144, EMCJ2008-45, pp. 27-30, 2008年7月. | |
| 資料番号 | EMCJ2008-45 | |
| 発行日 | 2008-07-11 (EMCJ, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2008-45 EMD2008-27 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-27 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ EMD |
| 開催期間 | 2008-07-18 - 2008-07-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 放電・回路／一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2008-07-EMCJ-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 1kV以下のマイクロギャップ放電に伴う放射電磁波強度の実験的検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Experimental Study on Radiated Electromagnetic Field Strength due to Micro Gap Discharge Below 1kV |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 絶縁破壊電界 / Breakdown field |
| キーワード(2)（和/英） | 放射電磁界 / Radiated Electromagnetic field |
| キーワード(3)（和/英） | ＥＳＤ / ESD |
| キーワード(4)（和/英） | 電気接点放電 / Micro gap discharge |
| キーワード(5)（和/英） | マイクロギャップ放電 / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川又 憲 / Ken Kawamata / カワマタ ケン |
| 第1著者 所属（和/英） | 八戸工業大学 (略称： 八戸工大) Hachinohe Institute of Technology (略称： Hachinohe Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 嶺岸 茂樹 / Shigeki Minegishi / ミネギシ シゲキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北学院大学 (略称： 東北学院大) Tohoku Gakuin University (略称： Tohoku Gakuin Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 芳賀 昭 / Akira Haga / ハガ アキラ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北学院大学 (略称： 東北学院大) Tohoku Gakuin University (略称： Tohoku Gakuin Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 修 / Osamu Fujiwara / フジワラ オサム |
| 第4著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-07-18 14:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2008-45, EMD2008-27 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.144(EMCJ), no.145(EMD) |
| ページ範囲 | pp.27-30 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2008-07-11 (EMCJ, EMD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]