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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-06-20 16:15 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について ○原口雅史（九工大）・三浦幸也（首都大東京）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）  DC2008-17 |
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| 抄録 | （和） | 集積回路の微細化技術の進展とともに，回路の劣化に伴う経時変化の考慮が重要になっている．本研究では，回路の劣化検知を行う準備として，論理回路の動作環境の変動や回路ばらつきによる回路特性への影響について回路シミュレータを用い評価した．まず，プロセスモニタ回路として利用できるリング発信器に対して，温度変化による周波数変動と，回路ばらつきとして回路の電源電圧の変化による周波数変動を調査した．次に，NANDゲートで構成される論理パスをモデルに，温度変化による動作変動と電源電圧の変化による遅延変動について考察した．ここではさらに回路の劣化特性として，回路内のNBTIによるトランジスタの劣化を仮定し，回路の動作変動を調査した． |
| （英） | With the progress of integrated circuit technology, it is becoming important to consider circuit aging. In this work we evaluate influence on circuit characteristic for the operational environment and circuit variation by a circuit simulator, as a preparation of aging detection. At first, for a ring oscillator which can be used as a process monitor circuit, we investigate frequency change for changes of temperature and power supply voltage, respectively. Then we examine delay of a circuit consisting of NOT gates by changing the power supply voltage and temperature change. In addition, assuming the aging transistors by NBTI, we investigate the change of circuit delay. | |
| キーワード | （和） | 論理回路 / 回路シミュレーション / 負バイアス温度不安定性 / 信頼性 / / / / |
| （英） | Logic circuit / Circuit simulation / Negative bias temperature instability / Reliability / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 99, DC2008-17, pp. 35-40, 2008年6月. | |
| 資料番号 | DC2008-17 | |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-17 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-06-20 - 2008-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Transistor Aging and Operational Environment of Logic Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 論理回路 / Logic circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 回路シミュレーション / Circuit simulation |
| キーワード(3)（和/英） | 負バイアス温度不安定性 / Negative bias temperature instability |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 原口 雅史 / Masafumi Haraguchi / ハラグチ マサフミ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第6著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-06-20 16:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-17 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.35-40 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) |
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