| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-06-20 15:50 オープン故障診断の性能向上について ○山崎浩二・堤 利幸（明大）・高橋 寛・樋上喜信・相京 隆（愛媛大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大）  DC2008-16 |
|
| 抄録 | （和） | 回路の微細化や銅配線の導入により，配線やビアの断線の発生頻度が高まっている．そのため，オープン故障診断法の開発の重要性が増してきている．本稿では，断線した信号線の論理値が隣接信号線の論理値のしきい値関数として表されるオープン故障の診断法を提案する．本手法では，このしきい値関数を利用して，故障信号線を絞り込み，さらに，故障信号線上の断線位置の推定を行う．計算機実験の結果は，多くの場合，高速に被疑故障を１箇所に特定できること，および故障信号線上の断線位置を故障信号線の長さの25\%程度まで絞り込むことができることを示している． |
| （英） | With the shrinking process technologies and the use of copper process, open defects on interconnect wires, contacts and vias often cause failure. Development of an efficient fault diagnosis method for open faults is desired. In this paper, we propose a method to dianose open faults in which the logical value of the line with open defect is represented as a threshold function of its adjacent lines. By using the threshold function, we can deduce not only a faulty line but also an open defect site at the fault line. Experimental results show that the proposed method can identify an exact faulty line in most cases with a very small computation cost. The proposed method can also identify the open defect site within 25\%-length of the faulty line. | |
| キーワード | （和） | 故障診断 / オープン故障 / 隣接信号線 / しきい値関数 / 検出・非検出情報 / / / |
| （英） | fault diagnosis / open faults / adjacent lines / threshold function / pass/fail information / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 99, DC2008-16, pp. 29-34, 2008年6月. | |
| 資料番号 | DC2008-16 | |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-16 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-06-20 - 2008-06-20 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | オープン故障診断の性能向上について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving the Diagnostic Quality of Open Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | オープン故障 / open faults |
| キーワード(3)（和/英） | 隣接信号線 / adjacent lines |
| キーワード(4)（和/英） | しきい値関数 / threshold function |
| キーワード(5)（和/英） | 検出・非検出情報 / pass/fail information |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第6著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) The University of Tokushima (略称： Tokushima Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第7著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) The University of Tokushima (略称： Tokushima Univ.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第8著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-06-20 15:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-16 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.99 |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-06-13 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]