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講演抄録/キーワード
講演名 2008-05-23 09:00
パワーゲーティングを適用した動的リコンフィギャラブルプロセッサの設計と評価
齊藤貴樹慶大)・白井利明芝浦工大)・中村拓郎西村 隆長谷川楊平堤 聡慶大)・香嶋俊裕中田光貴武田清大宇佐美公良芝浦工大)・天野英晴慶大RECONF2008-10
抄録 (和) 一般的に動的リコンフィギャラブルプロセッサは,複数の Processing Element (PE) を用いて演算を行う事で,高い並列性を実現し,高性能を発揮する.しかし,アプリケーション実行中にそれら全ての PE が,常に使用される訳ではない.半導体プロセスの微細化が進み,リーク電力の割合が無視できなくなってきている今日,演算に使用されない PE によって消費されるリーク電力は,モバイル機器のバッテリの駆動時間を大幅に短縮させる.故に,リーク電力の削減は大きな課題の 1 つであるといえる.
そこで本研究では,我々が開発を行っている動的リコンフィギャラブルプロセッサ, MuCCRA2.32b にパワーゲーティングを適用した, MuCCRA2.32b-PG を提案する.
パワーゲーティングを適用するに辺り,スリープトランジスタ及びアイソレーションセルを挿入した結果,面積オーバヘッドは 4.91% となった.また異なる粒度でスリープ制御を行った場合のリーク電力削減効果を見積もった所,最大,PE 単位ではリーク電力の 45%,一方 PE 単位よりも細粒度なユニット単位では, 48% の削減を達成した. 
(英) A dynamically reconfigurable processor achieves high performance making the best use of high degree of parallelism with its Processing Elements (PEs). However, while an application is running, not all PEs can be used for computation.
Recently, the ratio of leakage power is increasing, due to the progressing process rule. Since even unused PEs consume the leakage power, it may shorten the battery driving time for mobile devices.
Here, to alleviate this problem, we propose a dynamically reconfigurable architecture with power gating technique, MuCCRA2.32b-PG. By using the fine grained power gaing technique, the power of unused PEs or units is cut off, if the sleeping time is more than the break-even point.
As a result, 4.91% of area overhead came out, due to inserting sleep transistors and isolation cells. When the sleep signal was controlled for each PEs, 45% of leakage power was cut down at the maximum, during the execution of an application. On the other hand, when the signal was controlled for each units inside PEs, 48% of leakage power was reduced.
キーワード (和) 動的リコンフィギャラブルプロセッサ / 細粒度パワーゲーティング / リーク電力 / 損益分岐点 / / / /  
(英) Dynamically Reconfigurable Processors / Fine Grained Power Gating / Leakage Power / Break Even Point / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 48, RECONF2008-10, pp. 55-60, 2008年5月.
資料番号 RECONF2008-10 
発行日 2008-05-15 (RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード RECONF2008-10

研究会情報
研究会 RECONF  
開催期間 2008-05-22 - 2008-05-23 
開催地(和) 会津大学 
開催地(英) The University of Aizu 
テーマ(和) リコンフィギャラブルシステム、一般 
テーマ(英) Reconfigurable Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RECONF 
会議コード 2008-05-RECONF 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) パワーゲーティングを適用した動的リコンフィギャラブルプロセッサの設計と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Designing And Evaluating Dynamically Reconfigurable Processor with Power Gating Technique 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 動的リコンフィギャラブルプロセッサ / Dynamically Reconfigurable Processors  
キーワード(2)(和/英) 細粒度パワーゲーティング / Fine Grained Power Gating  
キーワード(3)(和/英) リーク電力 / Leakage Power  
キーワード(4)(和/英) 損益分岐点 / Break Even Point  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 齊藤 貴樹 / Yoshiki Saito / サイトウ ヨシキ
第1著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 白井 利明 / Toshiaki Shirai / シライ トモアキ
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Inst.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 拓郎 / Takuro Nakamura / ナカムラ タクロウ
第3著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 西村 隆 / Takashi Nishimura / ニシムラ タカシ
第4著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 長谷川 楊平 / Yohei Hasegawa / ハセガワ ヨウヘイ
第5著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 堤 聡 / Satoshi Tsutsumi / ツツミ アキラ
第6著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 香嶋 俊裕 / Toshihiro Kashima / カシマ トシヒロ
第7著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Inst.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 中田 光貴 / Mitsutaka Nakata / ナカタ ミツタカ
第8著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Inst.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 武田 清大 / Seidai Takeda / タケダ セイダイ
第9著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Inst.)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ
第10著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: Shibaura Inst.)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) 天野 英晴 / Hideharu Amano / アマノ ヒデハル
第11著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-05-23 09:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 RECONF 
資料番号 RECONF2008-10 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.48 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数
発行日 2008-05-15 (RECONF) 


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