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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-04-23 16:15 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF ○阮 双玉・難波一輝・伊藤秀男（千葉大）  CPSY2008-9 DC2008-9 |
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| 抄録 | （和） | VLSI の微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている．近年では，メモリ部やラッチ回路だけでなく，組合せ回路部におけるソフトエラーの発生が無視できなくなってきている．組合せ回路部に対する耐ソフトエラー技術の一手法として，二重化回路に対して，マスタラッチ，スレーブラッチ，Cエレメントからなるフリップフロップ(FF)を用いることにより，組合せ回路部で発生したソフトエラーパルスを訂正する手法が提案されている．しかし，この手法では幅の広いエラーパルスが発生したとき，訂正も検出もできないまま，誤った出力を出す問題がある．本論文では，既存の耐ソフトエラー設計にラッチ，遅延素子等を追加し，二重化した組合せ回路部で発生した幅の狭い想定内のソフトエラーパルスを訂正し，かつ想定外の幅の広い一時的なエラーパルスとハードエラーを検出できるフリップフロップ(FF)を提案する．また，提案FF構成を用いた遅延故障テスト容易化スキャン設計及び，2線式論理回路に本提案FFを適用する手法を示す．さらに，本提案FFが従来手法の耐ソフトエラーFFと比較して，最大66%の面積オーバヘッドにより構成できることを示す． |
| （英） | In the recent high-density and low-power VLSIs，occurrence of soft errors becomes significant problems．Recently，soft errors frequently occur on not only memory systems and latches but also combinational parts of logic circuits．Based on this standpoint，a construction of soft error tolerant FFs has been proposed．The construction is for dual module redundancy system and the FF consists of some master and slave latches and C-elements．In the FFs，soft error pulses occurring on combinational parts of logic circuits are corrected as long as the width of the pulses is narrow．However，soft error pulses having wide width are neither detected nor corrected in the FFs．This paper presents a construction of soft error tolerant FFs．The proposed FFs are constructed by being added some latches and delay elements into the existing soft error tolerant FFs．The proposed FFs have capability detecting soft error pulse having wide width as well as capability correcting those having narrow width．The proposed FFs are also capable of detecting hard errors．This paper also presents scan FFs facilitating delay fault testing and soft error tolerant FFs for dual-rail logic circuit based on the proposed FFs．The evaluation shows that the area of the proposed FF is up to 66% larger than that of the conventional soft error tolerant FFs． | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / ハードエラー / Cエレメント / 遅延故障 / 2線式論理回路 / / / |
| （英） | soft error / hard error / C-Element / delay fault / dual-rail logic circuit / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-9, pp. 49-54, 2008年4月. | |
| 資料番号 | DC2008-9 | |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2008-9 DC2008-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2008-04-23 - 2008-04-23 |
| 開催地（和） | 東大・武田ホール |
| 開催地（英） | Tokyo Univ. |
| テーマ（和） | ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 （共催： JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」） |
| テーマ（英） | Dependable Computing Systems, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-04-DC-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | ハードエラー / hard error |
| キーワード(3)（和/英） | Cエレメント / C-Element |
| キーワード(4)（和/英） | 遅延故障 / delay fault |
| キーワード(5)（和/英） | 2線式論理回路 / dual-rail logic circuit |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 阮 双玉 / Shuangyu Ruan / ゲン ソウギョク |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba-Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba-Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 秀男 / Hideo Ito / イトウ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba-Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-04-23 16:15:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2008-9, DC2008-9 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.14(CPSY), no.15(DC) |
| ページ範囲 | pp.49-54 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-04-16 (CPSY, DC) |
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