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講演抄録/キーワード
講演名 2008-04-23 16:45
非同期式回路に基づく耐劣化故障性実現に関する考察
米田友洋NII)・今井 雅東大)・松本 敦羽生貴弘東北大)・中村祐一NECCPSY2008-10 DC2008-10
抄録 (和) 半導体プロセス技術の進歩に伴い,大規模でディペンダブルなVLSIを実現する上で,今までにないようなタイプの故障が問題となりつつある.本稿は,使用中のストレスに起因するチップ内の局所的な性能劣化がハードウェア演算装置に与える影響について,データフローグラフレベルで解析し,非同期式回路による回路実現の優位性を示すとともに,非同期式回路と演算器再割り当てに基づいて耐劣化故障性を実現する一手法を提案する. 
(英) Recent advances in semiconductor process technologies cause new types of faults, which should be handled in order to obtain large and dependable VLSI systems. This report focuses on a type of faults that are caused by the stress during the operation and degrade performance of the circuit components. We analyze the influence of those delay faults in a data-flow level of hardware accelerators showing that asynchronous circuits are more robust than synchronous circuits with respect to such delay faults, and propose an approach to tolerating them using asynchronous circuit technologies and operational unit reallocation.
キーワード (和) 劣化故障 / 非同期式回路 / 演算器再割り当て / / / / /  
(英) Delay faults / Asynchronous circuits / Operational unit reallocation / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-10, pp. 55-60, 2008年4月.
資料番号 DC2008-10 
発行日 2008-04-16 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2008-10 DC2008-10

研究会情報
研究会 DC CPSY  
開催期間 2008-04-23 - 2008-04-23 
開催地(和) 東大・武田ホール 
開催地(英) Tokyo Univ. 
テーマ(和) ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 (共催: JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」) 
テーマ(英) Dependable Computing Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-04-DC-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 非同期式回路に基づく耐劣化故障性実現に関する考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An approach to tolerating delay faults based on asynchronous circuits 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 劣化故障 / Delay faults  
キーワード(2)(和/英) 非同期式回路 / Asynchronous circuits  
キーワード(3)(和/英) 演算器再割り当て / Operational unit reallocation  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 米田 友洋 / Tomohiro Yoneda / ヨネダ トモヒロ
第1著者 所属(和/英) 国立情報学研究所 (略称: NII)
National Institute of Informatics (略称: NII)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 今井 雅 / Masashi Imai / イマイ マサシ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 敦 / Atsushi Matsumoto / マツモト アツシ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiry (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 羽生 貴弘 / Takahiro Hanyu / ハニュウ タカヒロ
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku Universiry (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 祐一 / Yuichi Nakamura / ナカムラ ユウイチ
第5著者 所属(和/英) 日本電気 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-04-23 16:45:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 DC 
資料番号 CPSY2008-10, DC2008-10 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.14(CPSY), no.15(DC) 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数
発行日 2008-04-16 (CPSY, DC) 


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