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講演抄録/キーワード
講演名 2008-04-23 15:30
耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響
中島健吾難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-8 DC2008-8
抄録 (和) 近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策の一つに耐ソフトエラーラッチがある.このラッチには製造時におけるオープン故障やショート故障などの固定故障の一部に通常の製造テストでは検出できない故障がある.このような固定故障が発生しているラッチは,通常入力には正しく動作する.しかし,十分なソフトエラー耐性を持たないことが予想される.本論文では耐ソフトエラーラッチに検出不可能なオープン故障,またはショート故障がある場合について,そのラッチのソフトエラー耐性を明らかにしている.例えば,既存の耐ソフトエラーラッチにオープン故障が発生しているときは一時間当たり8.663×10-17回,ショート故障が発生しているときは9.790×10-17回,ラッチの出力が誤る.これは,ソフトエラー対策をしていないラッチに比べ,10-4~10-5程度ソフトエラー発生率が低下しているといえる. 
(英) In recent high-density, high-speed and low-power VLSIs, soft errors frequently occur, and soft error hardened design becomes essential. Soft error hardened latches were proposed as one of techniques correcting soft errors occurring on latches in VLSI systems. Some manufacturing faults occurring on the soft error hardened latches are untestable. Even if such faults occur, the latches work correctly as long as no soft errors occur. However, the faulty latches may have only lower soft error correcting capability than fault-free latches. This paper provides an analysis of soft error correcting capability of soft error hardened latches that untestable manufacturing open and short faults occur. On soft error hardened latches that open and short fault occur, uncorrectable soft errors occur 8.663×10-17and 9.789×10-17times per an hour, respectively. The probability that uncorrectable soft errors occur on faulty circuits with soft error hardened latches is 10-4~10-5 times lower than one that soft errors occur on fault-free circuits without soft error hardened latches.
キーワード (和) ソフトエラー / ラッチ / ソフトエラー発生率 / オープン故障 / ショート故障 / / /  
(英) Soft Error / Latch / Soft Error Rate / Open Fault / Short Fault / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 15, DC2008-8, pp. 43-48, 2008年4月.
資料番号 DC2008-8 
発行日 2008-04-16 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2008-8 DC2008-8

研究会情報
研究会 DC CPSY  
開催期間 2008-04-23 - 2008-04-23 
開催地(和) 東大・武田ホール 
開催地(英) Tokyo Univ. 
テーマ(和) ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 (共催: JST CREST 「アーキテクチャと形式的検証の協調による超ディペンダブルVLSI」) 
テーマ(英) Dependable Computing Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-04-DC-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of Untestable Hard Error on Soft Error Hardened Latches 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft Error  
キーワード(2)(和/英) ラッチ / Latch  
キーワード(3)(和/英) ソフトエラー発生率 / Soft Error Rate  
キーワード(4)(和/英) オープン故障 / Open Fault  
キーワード(5)(和/英) ショート故障 / Short Fault  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 健吾 / Kengo Nakashima / ナカシマ ケンゴ
第1著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル
第2著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 秀男 / Hideo Ito / イトウ ヒデオ
第3著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ)
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講演者
発表日時 2008-04-23 15:30:00 
発表時間 30 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-CPSY2008-8,IEICE-DC2008-8 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.14(CPSY), no.15(DC) 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPSY-2008-04-16,IEICE-DC-2008-04-16 


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