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講演抄録/キーワード
講演名 2008-04-18 11:15
[招待講演]電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ~ マルチノードアップセット問題の対応 ~
伊部英史日立ICD2008-10 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2008-10
抄録 (和) 地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が2000年前後から顕在化しはじめ、各種の問題が指摘されはじめている。 問題の定量化のためには標準的な試験手法が必要でその国際標準化も一昨年中にほぼ収束した。 本稿では環境中性子による各種のエラーモードの状況,と試験・シミュレーション方法、および対策について概括する。 
(英) Environmental neutrons is being widely recognized as the most significant source of a variety of error modes in semiconductor devices from late 90s. International defacto- or dejule standards are being established to fix standard test methods to quantify the vulnerability of the semiconductor devices to such radiation sources. The present paper summarizes the current status of the error modes, experimental and simulation/analysis methods, and possible/existing countermeasures.
キーワード (和) 中性子 / ソフトエラー / SEFI / MCU / MCBI / マルチノードアップセット / /  
(英) neutron / soft-error / SEFI / MCU / MCBI / Multi-node upset / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 6, ICD2008-10, pp. 51-56, 2008年4月.
資料番号 ICD2008-10 
発行日 2008-04-10 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2008-10 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2008-10

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2008-04-17 - 2008-04-18 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英)  
テーマ(和) メモリ技術(DRAM、SRAM、フラッシュ、新規メモリー) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2008-04-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 
サブタイトル(和) マルチノードアップセット問題の対応 
タイトル(英) Current Status of Impact and Countermeasures in Environmental Neutron Induced Failures in Electric Systems 
サブタイトル(英) Evolution of Multi-Node Upset Issues 
キーワード(1)(和/英) 中性子 / neutron  
キーワード(2)(和/英) ソフトエラー / soft-error  
キーワード(3)(和/英) SEFI / SEFI  
キーワード(4)(和/英) MCU / MCU  
キーワード(5)(和/英) MCBI / MCBI  
キーワード(6)(和/英) マルチノードアップセット / Multi-node upset  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊部 英史 / Eishi Ibe / イベ エイシ
第1著者 所属(和/英) 日立製作所生産技術研究所 (略称: 日立)
Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (略称: PERL)
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講演者
発表日時 2008-04-18 11:15:00 
発表時間 50 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2008-10 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.6 
ページ範囲 pp.51-56 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2008-04-10 


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