講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-04-18 11:15
[招待講演]電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ~ マルチノードアップセット問題の対応 ~ ○伊部英史(日立) ICD2008-10 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2008-10 |
抄録 |
(和) |
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が2000年前後から顕在化しはじめ、各種の問題が指摘されはじめている。 問題の定量化のためには標準的な試験手法が必要でその国際標準化も一昨年中にほぼ収束した。 本稿では環境中性子による各種のエラーモードの状況,と試験・シミュレーション方法、および対策について概括する。 |
(英) |
Environmental neutrons is being widely recognized as the most significant source of a variety of error modes in semiconductor devices from late 90s. International defacto- or dejule standards are being established to fix standard test methods to quantify the vulnerability of the semiconductor devices to such radiation sources. The present paper summarizes the current status of the error modes, experimental and simulation/analysis methods, and possible/existing countermeasures. |
キーワード |
(和) |
中性子 / ソフトエラー / SEFI / MCU / MCBI / マルチノードアップセット / / |
(英) |
neutron / soft-error / SEFI / MCU / MCBI / Multi-node upset / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 6, ICD2008-10, pp. 51-56, 2008年4月. |
資料番号 |
ICD2008-10 |
発行日 |
2008-04-10 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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