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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-02-08 10:50 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究 ○冨田 健・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  DC2007-71 |
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| 抄録 | （和） | 高品質なテストパターンの生成法の1つとして，n回検出テスト生成法が知られている．しかしながら，n回検出テスト集合の定義にしたがってテスト生成を行った場合，テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されることがある．この問題を解決したテスト生成法として，故障活性化率指向n回検出テストがある．しかしながら，故障活性化率指向n回検出テスト生成を用いても，すべての故障をn回検出するなかで，故障箇所からの経路数が多い場合に故障活性化率は向上しない．本論文では，さらに故障活性化率の向上を目的とし故障ごとにnの回数を変える可変n回検出テスト生成を提案し，そのテスト品質を統計的遅延品質レベルで評価する．ISCAS'89ベンチマーク回路による計算機実験により，故障活性化率の向上が統計的遅延品質レベルの向上につながることを示す． |
| （英） | N-deteciton test generation is known as one of the generation method of high-quality test set. However, many tests which hardly contribute to improve test quality may be contained in a test set generated base on conventional definitions of n-detection. A fault sensitization coverage oriented n-detection test generation (FSOD) was proposed as a test generation method that address this problem. However, it is difficult to improve fault sensitization coverage on the number of n detection times for each fault even if test patterns are generated by FSOD. In this paper, we propose a variable n-detection test generation method to further improve fault sensitization coverage and evaluate the test quality using statistical delay quality level. In the proposed method, the number of detection times for each fault is made variable. The experimental results using ISCAS89 benchmark circuits show that when fault sensitization coverage is increasing, statistical delay quality level is also increasing. | |
| キーワード | （和） | n回検出テスト / 故障活性化率 / 可変n回検出テスト / 統計的遅延品質レベル / / / / |
| （英） | n-detection test / fault sensitization coverage / valuable n-detection test, / statistical delay quality level / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-71, pp. 25-31, 2008年2月. | |
| 資料番号 | DC2007-71 | |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-71 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-02-08 - 2008-02-08 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A variable n-detection test generation method to increase fault sensitization coverage and evaluation of its test quality |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | n回検出テスト / n-detection test |
| キーワード(2)（和/英） | 故障活性化率 / fault sensitization coverage |
| キーワード(3)（和/英） | 可変n回検出テスト / valuable n-detection test, |
| キーワード(4)（和/英） | 統計的遅延品質レベル / statistical delay quality level |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 冨田 健 / Takeshi Tomita / トミタ タケシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon University) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon University) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji University) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-02-08 10:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-71 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.482 |
| ページ範囲 | pp.25-31 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) |
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