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講演抄録/キーワード
講演名 2008-02-08 09:25
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋 寛樋上喜信相京 隆門山周平・○渡部哲也高松雄三愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2007-68
抄録 (和) 配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
本稿では,隣接信号線における信号変化によって励起する動的なオープン故障モデルおよびその故障診断法を提案する.まず,隣接信号線における信号変化によってオープン故障をもつ信号線に故障が励起する故障モデルを提案する.次に,動的なオープン故障モデルに基づく故障診断法を提案する.提案する故障診断法はフェイルテストパターンおよびパステストパターンを利用して故障候補を推定する.診断用故障シミュレーションの結果に基づいて故障候補の順位を決定する.最後に,提案した故障診断法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う. 
(英) In modern manufacturing technologies with the shrinking of manufacturing process, LSIs may have several metal interconnect layers and the long copper(Cu) interconnect wires.
Under the modern manufacturing technologies, the open defect is the one of the significant issues to maintain the reliability of LSI.
In this paper, we propose a dynamic open fault model with considering the affects of the adjacent lines. Under the open fault model, the fault is excited depending on the signal transitions at the adjacent lines that are assigned by the pair of test patterns. Next, we propose the diagnosis method based on the dynamic open fault model. The proposed method uses not only fail test patterns but also the pass test patterns. Base on results of the diagnostic fault simulation, the candidate faults are ranked. Experimental results show that the proposed method is able to diagnose the open faults.
キーワード (和) オープン故障 / 故障診断 / フェイルテストパターン / パステストパターン / 診断用故障シミュレーション / / /  
(英) open faults / fault diagnosis / fail test patteren / pass test pattern / diagnostic fault simulation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-68, pp. 7-12, 2008年2月.
資料番号 DC2007-68 
発行日 2008-02-01 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2007-68

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2008-02-08 - 2008-02-08 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fault Diagnosis for Dyinamic Open Faults with Considering Adjacent Lines 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) オープン故障 / open faults  
キーワード(2)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis  
キーワード(3)(和/英) フェイルテストパターン / fail test patteren  
キーワード(4)(和/英) パステストパターン / pass test pattern  
キーワード(5)(和/英) 診断用故障シミュレーション / diagnostic fault simulation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 門山 周平 / Syuhei Kadoyama / カドヤマ シュウヘイ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡部 哲也 / Tetsuya Watanabe / ワタナベ テツヤ
第5著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ
第6著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ
第7著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Kouji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第8著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第9著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Univeresity of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ
第10著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Univeresity of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
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講演者 第5著者 
発表日時 2008-02-08 09:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2007-68 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.482 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2008-02-01 (DC) 


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