講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-02-08 09:25
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛・樋上喜信・相京 隆・門山周平・○渡部哲也・高松雄三(愛媛大)・堤 利幸・山崎浩二(明大)・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大) DC2007-68 |
抄録 |
(和) |
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
本稿では,隣接信号線における信号変化によって励起する動的なオープン故障モデルおよびその故障診断法を提案する.まず,隣接信号線における信号変化によってオープン故障をもつ信号線に故障が励起する故障モデルを提案する.次に,動的なオープン故障モデルに基づく故障診断法を提案する.提案する故障診断法はフェイルテストパターンおよびパステストパターンを利用して故障候補を推定する.診断用故障シミュレーションの結果に基づいて故障候補の順位を決定する.最後に,提案した故障診断法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う. |
(英) |
In modern manufacturing technologies with the shrinking of manufacturing process, LSIs may have several metal interconnect layers and the long copper(Cu) interconnect wires.
Under the modern manufacturing technologies, the open defect is the one of the significant issues to maintain the reliability of LSI.
In this paper, we propose a dynamic open fault model with considering the affects of the adjacent lines. Under the open fault model, the fault is excited depending on the signal transitions at the adjacent lines that are assigned by the pair of test patterns. Next, we propose the diagnosis method based on the dynamic open fault model. The proposed method uses not only fail test patterns but also the pass test patterns. Base on results of the diagnostic fault simulation, the candidate faults are ranked. Experimental results show that the proposed method is able to diagnose the open faults. |
キーワード |
(和) |
オープン故障 / 故障診断 / フェイルテストパターン / パステストパターン / 診断用故障シミュレーション / / / |
(英) |
open faults / fault diagnosis / fail test patteren / pass test pattern / diagnostic fault simulation / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-68, pp. 7-12, 2008年2月. |
資料番号 |
DC2007-68 |
発行日 |
2008-02-01 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2007-68 |