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講演抄録/キーワード
講演名 2008-02-08 16:05
ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価
土屋秀和阿部高也浅川 毅東海大DC2007-80
抄録 (和) 近年,LSIデバイスの動作速度の高速化や回路の大規模化が進んでいる.それに伴って,テスト時の消費電力が問題となっている.そこで我々は,Gated Clockを適用した 分割シフト法TPGを提案し,その故障検出効率および平均電流について評価を行なった. 
(英) Recently, the operating speed of LSI is more fast and the scale of LSI is more larger. These induce increasing the dissipation power for testing. We evaluated about the fault coverage and the average current for K-division shift method.
キーワード (和) ATPGベクトル / Gated Clock / 平均電流 / シフトレジスタ / / / /  
(英) ATPG vector / Gated Clock / current dissipation / shift register / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-80, pp. 83-88, 2008年2月.
資料番号 DC2007-80 
発行日 2008-02-01 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2007-80

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2008-02-08 - 2008-02-08 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Current dissipation of Test pattern generators using ATPG vectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ATPGベクトル / ATPG vector  
キーワード(2)(和/英) Gated Clock / Gated Clock  
キーワード(3)(和/英) 平均電流 / current dissipation  
キーワード(4)(和/英) シフトレジスタ / shift register  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 土屋 秀和 / Hidekazu Tsuchiya / ツチヤ ヒデカズ
第1著者 所属(和/英) 東海大学 (略称: 東海大)
Tokai University (略称: Tokai univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 阿部 高也 / Takaya Abe / アベ タカヤ
第2著者 所属(和/英) 東海大学 (略称: 東海大)
Tokai University (略称: Tokai univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅川 毅 / Takeshi Asakawa / アサカワ タケシ
第3著者 所属(和/英) 東海大学 (略称: 東海大)
Tokai University (略称: Tokai univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-02-08 16:05:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2007-80 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.482 
ページ範囲 pp.83-88 
ページ数
発行日 2008-02-01 (DC) 


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