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講演抄録/キーワード
講演名 2008-01-25 14:50
定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法
小倉裕俊久我宣裕横浜国大EMD2007-112 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-112
抄録 (和) 本稿では,受動素子で生ずる相互変調ひずみ(PIM:Passive Intermodulation)の評価法として定在波同軸管と共振試料を用いた非接触測定法を提案している.本手法は同軸管と被測定試料間の電磁的相互結合を利用することで従来法で必須であったはんだ付け接続を不要とし,導体材料で生ずるPIMレベルの非接触測定を可能としている.共振試料を用いることで直接電流を印加する従来法とほぼ同等の測定感度を実現し,高感度な測定を行っている.提案手法の有効性を金属細線を用いた2GHz帯の実験によって検討している.さらに,提案手法を用いたPIM評価の応用例として,PIM源の長さや位置によるPIM特性,ストリップ導体のPIM特性評価を行っている. 
(英) A non-contact measurement method for PIM evaluation is proposed in this paper. This method employs a standing wave coaxial-tube and resonant sample. It excludes a soldering connection for the connection of the device undertest (DUT), which is required for conventional standing wave methods. In addition, a sensitive measurement is achieved using a resonant conductor. The effect of PIM-source size and position is evaluated in this proposed method as a application. Besides, the method is applicable to strip-shaped DUTs. Experimental examinations using commercial PCBs are presented.
キーワード (和) 受動相互変調ひずみ / 非線形ひずみ / 定在波法 / 同軸管 / プリント基板 / / /  
(英) passive intermodulation / PIM / nonlinearity / standing wave method / coaxial line / printed circuit board / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 457, EMD2007-112, pp. 17-22, 2008年1月.
資料番号 EMD2007-112 
発行日 2008-01-18 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2007-112 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-112

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2008-01-25 - 2008-01-25 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2008-01-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Non-contact intermodulation measurement for a resonant DUT in a standing wave coaxial tube 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 受動相互変調ひずみ / passive intermodulation  
キーワード(2)(和/英) 非線形ひずみ / PIM  
キーワード(3)(和/英) 定在波法 / nonlinearity  
キーワード(4)(和/英) 同軸管 / standing wave method  
キーワード(5)(和/英) プリント基板 / coaxial line  
キーワード(6)(和/英) / printed circuit board  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小倉 裕俊 / Hirotoshi Ogura / オグラ ヒロトシ
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 久我 宣裕 / Nobuhiro Kuga / クガ ノブヒロ
第2著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-01-25 14:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2007-112 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.457 
ページ範囲 pp.17-22 
ページ数
発行日 2008-01-18 (EMD) 


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