講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-01-25 14:55
[招待講演]Nb-AlO-Nbジョセフソン接合の異常な臨界電流値の解析 ○日野出憲治・佐藤哲朗・永沢秀一・日高睦夫(超電導工学研) エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2007-29 |
抄録 |
(和) |
Nb-AlO-Nbジョセフソン接合(JJ)の超電導臨界電流値(Ic)バラツキ・変動について検討した。従来から知られている、リソグラフィー起因のJJ寸法バラツキ、プラズマプロセス等による接合劣化以外の新しいIc変動メカニズムを見つけた。回路の製造プロセス中に水素がニオブ中に出入り・拡散することに起因した接合特性の変動である。この現象は、同一寸法のJJの臨界電流値が20~30%ばらつくこと、変動するのは特定の接合の臨界電流値であるといった特徴をもっている。 |
(英) |
We studied on the scattering of the critical current for Nb-AlO-Nb Josephson junctions. We have found that hydrogen was incorporated into and desorbed from Nb electrodes during the fabrication process, which changed the critical current density of the junctions. The deviation in the critical current occurs on some specific junctions and the range is 20~30%. |
キーワード |
(和) |
ニオブ / ジョセフソン接合 / 臨界電流値 / SFQ / 水素 / パラジウム / / |
(英) |
niobium / Josephson junction / critical current / SFQ / hydrogen / palladium / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 458, SCE2007-29, pp. 23-27, 2008年1月. |
資料番号 |
SCE2007-29 |
発行日 |
2008-01-18 (SCE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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