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講演抄録/キーワード
講演名 2008-01-18 15:45
無電解めっき法による超微細電極接続法
横島時彦山地泰弘田村祐一郎菊地克弥仲川 博青柳昌宏産総研CPM2007-147 ICD2007-158 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2007-147 ICD2007-158
抄録 (和) 現行のフリップチップ接続は,接続時に加圧や加熱により固相接続を行うため,チップへのダメージが懸念されている.さらに本手法はチップ-チップもしくはチップ-基板との位置決めにメカニカルな装置を用いるため,ミクロンからサブミクロンの位置決め精度を有する装置を開発することは容易ではない.無電解めっき法は,外部電源を必要とせず,導通がない表面にも選択的にめっきを析出することが可能であり,比較的低温な成膜プロセスである.そこで,本手法をフリップチップ接続に応用できれば,チップへのダメージの軽減,接続の微細化・高精度化,プロセスの簡略化が期待できる.本報告では,無電解めっきによるフリップチップ接続の試みについて,微細電極接続の観点から検討を行った.その結果,対向する幅5mmの微細電極の接続が可能であり,20 μmピッチ,幅5μmの微細電極アレイは所望の電極間のみの接続を実現した. 
(英) Decrease in bonding temperature and bonding pressure are key challenges for higher interconnection-density packages in recent years. To improve mechanical process such as thermal stress and mechanical damage of the device circuits, we have investigated a method of pad-interconnection using electroless plating. Practical feasibility of this technique was demonstrated by forming interconnection between pads separated by 5 µm and measuring 5 µm in both height and width. This method was applied successfully to interconnecting the pads forming an array with a pitch of 20 µm.
キーワード (和) 電極接合 / フリップチップ接続 / 低温接続 / 無電解めっき / / / /  
(英) Pad interconnection / Flip-chip bonding / Low-temperature bonding / Electroless plating / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 425, CPM2007-147, pp. 111-116, 2008年1月.
資料番号 CPM2007-147 
発行日 2008-01-10 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2007-147 ICD2007-158 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2007-147 ICD2007-158

研究会情報
研究会 CPM ICD  
開催期間 2008-01-17 - 2008-01-18 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般:特集テーマ 「チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価」(オーガナイザ:須藤俊夫先生(芝浦工業大学 )) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2008-01-CPM-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 無電解めっき法による超微細電極接続法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A method of Ultra-fine Pad Interconnection using Electroless Deposition 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電極接合 / Pad interconnection  
キーワード(2)(和/英) フリップチップ接続 / Flip-chip bonding  
キーワード(3)(和/英) 低温接続 / Low-temperature bonding  
キーワード(4)(和/英) 無電解めっき / Electroless plating  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 横島 時彦 / Tokihiko Yokoshima / ヨコシマ トキヒコ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山地 泰弘 / Yasuhiro Yamaji / ヤマジ ヤスヒロ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 田村 祐一郎 / Yuichiro Tamura / タムラ ユウイチロウ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 克弥 / Katsuya Kikuchi / キクチ カツヤ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 仲川 博 / Hiroshi Nakagawa / ナカガワ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 青柳 昌宏 / Masahiro Aoyagi / アオヤギ マサヒロ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-01-18 15:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CPM 
資料番号 CPM2007-147, ICD2007-158 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.425(CPM), no.426(ICD) 
ページ範囲 pp.111-116 
ページ数
発行日 2008-01-10 (CPM, ICD) 


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