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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-01-18 10:30 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法 ○植松 裕・大坂英樹（日立）・西尾洋二・波多野 進（エルピーダメモリ）  CPM2007-139 ICD2007-150 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2007-139 ICD2007-150 |
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| 抄録 | （和） | Vrefの適切なターゲットインピーダンスの設定により，低コストで高いノイズ耐性を有するDDR-SDRAMを実現することを目指し，プリント配線基板では対策が難しい高周波ノイズに対するノイズ耐性を強くするため，DRAMチップ内のVref給電網にローパスフィルタを挿入した．このフィルタの効果を実証するため，実メモリモジュールを模擬したテスト基板を用いたDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定系を確立した． Vrefノイズ許容値の測定により，周波数が高いほどノイズ許容値が大きくなる結果が得られた．これはテストチップに挿入したローパスフィルタの効果によるものと考えられる． |
| （英） | Aiming to achieve double data rate-synchronous DRAM (DDR-SDRAM) at low-cost and with high noise tolerance by setting adequate Vref target impedance, we have inserted a low pass filter (LPF) in the Vref line of DRAM chip. To demonstrate this LPF effect, we have established a measurement setup for Vref noise tolerance of DDR2-SDRAM on test board simulating actual memory module. The measured Vref noise tolerance has strong frequency-dependency; the higher the frequency, the larger the noise tolerance. We believe that this is because of the LPF consisted in the test chip. | |
| キーワード | （和） | DDR-SDRAM / Vref / ノイズ許容値 / ノイズ感度測定 / ターゲットインピーダンス / / / |
| （英） | DDR-SDRAM / Vref / Noise Tolerance / Noise Sensitivity Measurement / Target Impedance / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 425, CPM2007-139, pp. 65-69, 2008年1月. | |
| 資料番号 | CPM2007-139 | |
| 発行日 | 2008-01-10 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2007-139 ICD2007-150 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2007-139 ICD2007-150 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM ICD |
| 開催期間 | 2008-01-17 - 2008-01-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | ＬＳＩシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般：特集テーマ 「チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価」（オーガナイザ：須藤俊夫先生（芝浦工業大学 ）） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CPM |
| 会議コード | 2008-01-CPM-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method for Measuring Vref Noise Tolerance of DDR2-SDRAM on Test Board that Simulates Memory Module |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | DDR-SDRAM / DDR-SDRAM |
| キーワード(2)（和/英） | Vref / Vref |
| キーワード(3)（和/英） | ノイズ許容値 / Noise Tolerance |
| キーワード(4)（和/英） | ノイズ感度測定 / Noise Sensitivity Measurement |
| キーワード(5)（和/英） | ターゲットインピーダンス / Target Impedance |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 植松 裕 / Yutaka Uematsu / ウエマツ ユタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi Ltd. (略称： Hitachi) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大坂 英樹 / Hideki Osaka / オオサカ ヒデキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所 中央研究所 (略称： 日立) Central Research Laboratory, Hitachi Ltd. (略称： Hitachi) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西尾 洋二 / Yoji Nishio / ニシオ ヨウジ |
| 第3著者 所属（和/英） | エルピーダメモリ株式会社 (略称： エルピーダメモリ) Elpida Memory Inc, (略称： Elpida) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 波多野 進 / Susumu Hatano / ハタノ ススム |
| 第4著者 所属（和/英） | エルピーダメモリ株式会社 (略称： エルピーダメモリ) Elpida Memory Inc, (略称： Elpida) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-01-18 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | CPM |
| 資料番号 | CPM2007-139, ICD2007-150 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.425(CPM), no.426(ICD) |
| ページ範囲 | pp.65-69 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2008-01-10 (CPM, ICD) |
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