お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年6月開催)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2008-01-18 10:30
実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法
植松 裕大坂英樹日立)・西尾洋二波多野 進エルピーダメモリCPM2007-139 ICD2007-150 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2007-139 ICD2007-150
抄録 (和) Vrefの適切なターゲットインピーダンスの設定により,低コストで高いノイズ耐性を有するDDR-SDRAMを実現することを目指し,プリント配線基板では対策が難しい高周波ノイズに対するノイズ耐性を強くするため,DRAMチップ内のVref給電網にローパスフィルタを挿入した.このフィルタの効果を実証するため,実メモリモジュールを模擬したテスト基板を用いたDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定系を確立した. Vrefノイズ許容値の測定により,周波数が高いほどノイズ許容値が大きくなる結果が得られた.これはテストチップに挿入したローパスフィルタの効果によるものと考えられる. 
(英) Aiming to achieve double data rate-synchronous DRAM (DDR-SDRAM) at low-cost and with high noise tolerance by setting adequate Vref target impedance, we have inserted a low pass filter (LPF) in the Vref line of DRAM chip. To demonstrate this LPF effect, we have established a measurement setup for Vref noise tolerance of DDR2-SDRAM on test board simulating actual memory module. The measured Vref noise tolerance has strong frequency-dependency; the higher the frequency, the larger the noise tolerance. We believe that this is because of the LPF consisted in the test chip.
キーワード (和) DDR-SDRAM / Vref / ノイズ許容値 / ノイズ感度測定 / ターゲットインピーダンス / / /  
(英) DDR-SDRAM / Vref / Noise Tolerance / Noise Sensitivity Measurement / Target Impedance / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 425, CPM2007-139, pp. 65-69, 2008年1月.
資料番号 CPM2007-139 
発行日 2008-01-10 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2007-139 ICD2007-150 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2007-139 ICD2007-150

研究会情報
研究会 CPM ICD  
開催期間 2008-01-17 - 2008-01-18 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般:特集テーマ 「チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価」(オーガナイザ:須藤俊夫先生(芝浦工業大学 )) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2008-01-CPM-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Method for Measuring Vref Noise Tolerance of DDR2-SDRAM on Test Board that Simulates Memory Module 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) DDR-SDRAM / DDR-SDRAM  
キーワード(2)(和/英) Vref / Vref  
キーワード(3)(和/英) ノイズ許容値 / Noise Tolerance  
キーワード(4)(和/英) ノイズ感度測定 / Noise Sensitivity Measurement  
キーワード(5)(和/英) ターゲットインピーダンス / Target Impedance  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 植松 裕 / Yutaka Uematsu / ウエマツ ユタカ
第1著者 所属(和/英) 株式会社日立製作所 中央研究所 (略称: 日立)
Central Research Laboratory, Hitachi Ltd. (略称: Hitachi)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大坂 英樹 / Hideki Osaka / オオサカ ヒデキ
第2著者 所属(和/英) 株式会社日立製作所 中央研究所 (略称: 日立)
Central Research Laboratory, Hitachi Ltd. (略称: Hitachi)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 西尾 洋二 / Yoji Nishio / ニシオ ヨウジ
第3著者 所属(和/英) エルピーダメモリ株式会社 (略称: エルピーダメモリ)
Elpida Memory Inc, (略称: Elpida)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 波多野 進 / Susumu Hatano / ハタノ ススム
第4著者 所属(和/英) エルピーダメモリ株式会社 (略称: エルピーダメモリ)
Elpida Memory Inc, (略称: Elpida)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2008-01-18 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 CPM 
資料番号 IEICE-CPM2007-139,IEICE-ICD2007-150 
巻番号(vol) IEICE-107 
号番号(no) no.425(CPM), no.426(ICD) 
ページ範囲 pp.65-69 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-CPM-2008-01-10,IEICE-ICD-2008-01-10 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会