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講演抄録/キーワード
講演名 2007-12-07 11:20
トンネル注入量子井戸レーザにおけるキャリア注入確率と再結合確率の解析
比嘉康貴宮本智之中島 浩藤本康介小山二三夫東工大LQE2007-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2007-116
抄録 (和) 量子井戸活性層にキャリア遷移過程を制御して注入する構造を併設したトンネル注入量子井戸構造において,活性層へのキャリア注入確率と発光再結合確率の構造依存性を理論的に解析し,本構造を有したレーザデバイス設計の指針を示した.従来構造ではキャリア注入確率を制御していないが,本構造では注入領域の構造を変化させることでその制御が可能になり,より高速な( < 10ps )キャリア注入といった特性が可能になる.本報告では注入層の厚さと組成を変化させて,そのキャリア注入確率をLOフォノン散乱確率を基に解析し,その際の発光再結合確率とあわせてレーザデバイスに適した活性層を設計する指針について報告する. 
(英) Carrier injection rate in tunnel injection quantum well structure was investigated thorough theoretical analysis. Tunnel injection quantum well structure can be designed to control the carrier injection rate. In this structure, the carrier transition time to active well was a few picoseconds when the structure was designed for high speed transition. In this report, we suggest the guideline for determination the structure of semiconductor lasers for high speed operation.
キーワード (和) トンネル注入構造 / LOフォノン散乱 / 高速動作 / / / / /  
(英) Tunnel injection / LO phonon scattering / High speed operation / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 372, LQE2007-116, pp. 15-20, 2007年12月.
資料番号 LQE2007-116 
発行日 2007-11-30 (LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード LQE2007-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2007-116

研究会情報
研究会 LQE  
開催期間 2007-12-07 - 2007-12-07 
開催地(和) 機械振興会館 地下3階6号室 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 半導体レーザ関連技術,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2007-12-LQE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) トンネル注入量子井戸レーザにおけるキャリア注入確率と再結合確率の解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Theoretical Analysis of Carrier Injection Rate and Recombination Rate in Tunnel Injection Quantum Well Lasers 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) トンネル注入構造 / Tunnel injection  
キーワード(2)(和/英) LOフォノン散乱 / LO phonon scattering  
キーワード(3)(和/英) 高速動作 / High speed operation  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 比嘉 康貴 / Yasutaka Higa / ヒガ ヤスタカ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮本 智之 / Tomoyuki Miyamoto / ミヤモト トモユキ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 浩 / Hiroshi Nakajima / ナカジマ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 康介 / Kosuke Fujimoto / フジモト コウスケ
第4著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小山 二三夫 / Fumio Koyama / コヤマ フミオ
第5著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2007-12-07 11:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 LQE 
資料番号 IEICE-LQE2007-116 
巻番号(vol) IEICE-107 
号番号(no) no.372 
ページ範囲 pp.15-20 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-LQE-2007-11-30 


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