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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-11-20 10:05 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 ○加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大）  VLD2007-70 DC2007-25 |
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| 抄録 | （和） | 本論文では，遅延故障テスト容易化フリップフロップ( 以下FF と略記) 方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する．提案テスト圧縮法は，遅延故障テスト容易化FF の構造を利用したテストデータ圧縮(1段階目圧縮) を行い，予めテストデータ量を削減する．その後削減されたデータにさらにテストデータ圧縮(2段階目圧縮)をかけることにより，2 段階のテストデータ圧縮を行う．評価実験において，ハフマン符号によるテストデータ圧縮法を2 段階目圧縮に用いて提案圧縮法を適用した場合，従来法の場合と比較して，ATE に格納するテストデータ量を最大で37.1%，平均で26.0%削減できることを確認した． |
| （英） | This paper presents a stuck-at test data compression technique using the scan flip flops with delay fault testability. The propose technique consists of two-phase test data compression. First, the proposed technique compresses the test data volume utilizing the unique structure of the scan flip flop(1st compression process). Second, it compresses again the compresseded test data utilizing X data (2nd compression process). Evaluation shows that the roposed technique for huffman test data compression generates smaller compressed test data for ATE than conventional huffman data compression. The amount of compressed test data for ATE by the proposed technique is less 37.1% in maximum, 26.0% on average than the one by the conventional technique. | |
| キーワード | （和） | 遅延故障テスト容易化FF / スキャンベクトル長圧縮法 / テストデータ量削減 / 1回スキャンイン操作 / 2回スキャンイン操作 / / / |
| （英） | FFs with delay fault testability / scan vector length compression / one step scan-in operation / two step scan-in operation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 337, DC2007-25, pp. 1-6, 2007年11月. | |
| 資料番号 | DC2007-25 | |
| 発行日 | 2007-11-13 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2007-70 DC2007-25 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CPSY RECONF DC IPSJ-SLDM IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2007-11-20 - 2007-11-22 |
| 開催地（和） | 北九州国際会議場 |
| 開催地（英） | Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2007 ―VLSI設計の新しい大地を考える研究会― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2007 ---A New Frontier in VLSI Design--- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2007-11-VLD-CPSY-RECONF-DC-IPSJ-SLDM-IPSJ-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 2-Step Test Data Compression using Scan FF with Two Pattern Testability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延故障テスト容易化FF / FFs with delay fault testability |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンベクトル長圧縮法 / scan vector length compression |
| キーワード(3)（和/英） | テストデータ量削減 / one step scan-in operation |
| キーワード(4)（和/英） | 1回スキャンイン操作 / two step scan-in operation |
| キーワード(5)（和/英） | 2回スキャンイン操作 / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 健太郎 / Kentaroh Katoh / カトウ ケンタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 秀男 / Hideo Ito / イトウ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-11-20 10:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2007-70, DC2007-25 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.334(VLD), no.337(DC) |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-11-13 (VLD, DC) |
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