講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-10-17 14:15
高温超伝導ランプエッジ型ジョセフソン接合作製におけるランプ形状の最適化 ○安達成司・五十嵐 覚・樋口清一・若菜裕紀(超電導工学研)・岩田展幸・山本 寛(日大)・田辺圭一(超電導工学研) エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2007-21 |
抄録 |
(和) |
高温超伝導ランプエッジ型ジョセフソン接合を用いた集積化回路作製において必要不可欠な技術である,チップ内に特性ばらつきの少ない接合を多数作製する方法について検討した.接合特性を決定する要因のうち,ばらつきの原因となり得るものとして特にランプ形状の均一性に着目した.ランプの作製はレジストのリフロープロセスを適用したフォトリソグラフィおよびイオン照射によって行なった.イオン照射前のレジスト端部形状が作製されるランプ形状に大きく影響を与えることがわかった.また,レジスト端部形状の違いは,回路パターンの場所による違いによって引き起こされることもわかった.回路パターンに影響されず一様な斜面を形成するための手法を開発した.従来よりも薄いレジスト膜を使用し,一様な斜面を得るのに必要な最小限の時間でリフローを行なうことで,現行プロセスよりも形状の揃ったランプを作製することができた.実際にToggle-Flip-Flop用の回路パターンを用いてその有効性を実証した. |
(英) |
For fabrication of integrated circuits including high-Tc ramp-edge Josephson junctions, the establishment of preparation technique for many junctions with a small spread of properties in a chip is indispensable. It is considered that a difference in the ramp shape induces the spread. We refined a photolithography method for producing ramps having smooth surfaces without a tail structure and similar angles. The use of a thin resist film and the optimization of the resist reflowing parameters were found important to improve the method. We demonstrated fabrication of smooth ramps with a small spread in their angles using a mask pattern for a Toggle-Flip-flop circuit by employing the improved reflowing parameters. |
キーワード |
(和) |
ランプエッジ / ジョセフソン接合 / フォトレジスト / リフロー / 原子間力顕微鏡 / ばらつき / / |
(英) |
Ramp-edge / Josephson junction / Photoresist / Reflow / AFM / Spread / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 259, SCE2007-21, pp. 17-21, 2007年10月. |
資料番号 |
SCE2007-21 |
発行日 |
2007-10-10 (SCE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2007-21 |