| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-09-14 15:00 電子部品の故障解析および良品解析 ～ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ～ ○今井康雄・田中大起（沖エンジニアリング）  R2007-35 |
|
| 抄録 | （和） | 近年，車載用電子部品の重要は急速に高まり，電子部品の高機能・高性能化に伴い最先端プロセスを用いた半導体部品を使用するようになってきた。信頼性試験や故障解析では検出が難しい潜在欠陥を，新しい良品解析を用いて調査する仕組みが定着してきた。ここでは，その一例を紹介する。 |
| （英） | In recent years, that the electronic component, which is for automobile use, is important is rising rapidly. It got to use the semiconductor part, which used the most advanced process with advanced function and superior performance of the electronic component. The mechanism to investigate the dormant failure, which the detection is difficult for using the new article of good quality analysis method, is fixed in the reliability test and the failure analyses. The individual introduces the example. | |
| キーワード | （和） | 信頼性試験 / 故障解析 / 良品解析 / / / / / |
| （英） | The reliability test / The failure analyses / The article of good quality analysis / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-35, pp. 35-39, 2007年9月. | |
| 資料番号 | R2007-35 | |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-35 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2007-09-14 - 2007-09-14 |
| 開催地（和） | 高知工科大学 |
| 開催地（英） | Kochi Univ. of Technology |
| テーマ（和） | ＬＳＩの評価・診断・解析及び、品質 |
| テーマ（英） | For LSI, evaluation, fault diagnosis, physical analysis and quality |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2007-09-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電子部品の故障解析および良品解析 |
| サブタイトル（和） | 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み |
| タイトル（英） | The failure analyses and the article of good quality analysis of the electronic component |
| サブタイトル（英） | The efforts for the reliability improvement of the electronic component which is for automobile use |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性試験 / The reliability test |
| キーワード(2)（和/英） | 故障解析 / The failure analyses |
| キーワード(3)（和/英） | 良品解析 / The article of good quality analysis |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 今井 康雄 / Yasuo Imai / イマイ ヤスオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 沖エンジニアリング（株） (略称： 沖エンジニアリング) Ｏｋｉ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｇ Co.,Ｌｔｄ. (略称： ＯＥＧ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 大起 / Ｄａｉｋｉ Ｔａｎａｋａ / タナカ ダイキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 沖エンジニアリング（株） (略称： 沖エンジニアリング) Ｏｋｉ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｇ Co.,Ｌｔｄ. (略称： ＯＥＧ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-09-14 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2007-35 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.213 |
| ページ範囲 | pp.35-39 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2007-09-07 (R) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]