講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-09-14 13:40
LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について ○中村優介・大和勇太・温 暁青・宮瀬紘平・梶原誠司(九工大)・K. K. サルージャ(ウィスコンシン大) R2007-33 |
抄録 |
(和) |
LSIの微細化・高速化により,欠陥の振舞いは複雑化し,複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた.このような回路を精確に診断するためにX故障モデルによるPer-Test診断手法が提案されている.しかし、微細化LSIの特徴でもある,ビア,バッファの存在,閾値電圧の順序関係などには対応していなかった.本論文ではこれらの問題を解決するために,ビア,バッファを考慮したX故障モデル,閾値電圧の順序関係を考慮した診断値計算手法をX故障によるPer-Test診断手法に導入し,実験結果によって有効性を示す. |
(英) |
The behavior of defects has become complex and more than one defects often occur in a single circuit due to shrinking feature sizes and high performance of LSI. However,the extensive use of vias and buffers,and the unpredictable order relation among threshold voltages at fanout branches,both being typical phenomena in a deep-submicron circuit,have not been fully addressed by conventional Per-Test X-fault diagnosis. To solve these problem,this paper proposes an improved Per-Test X-fault diagnosis method,an expanded X-fault model to handle via and buffer,and occurrence probabilities of logic behavior for a physical defect to handle the unpredictable relation among threshold voltages. Experimental results show the effectiveness of the proposal method. |
キーワード |
(和) |
故障診断 / 故障モデル / X故障モデル / / / / / |
(英) |
fault diagnosis / fault model / X-fault model / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-33, pp. 23-28, 2007年9月. |
資料番号 |
R2007-33 |
発行日 |
2007-09-07 (R) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
R2007-33 |