講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-08-24 11:35
n-MOSFETの非対称性および配置方位依存性の解析 ○松田敏弘・杉山裕也・岩田栄之(富山県立大)・大曽根隆志(岡山県立大) SDM2007-161 ICD2007-89 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2007-161 ICD2007-89 |
抄録 |
(和) |
MOSFETの非対称性,配置方位依存性はアナログ回路では重要な設計パラメータである.45°単位で回転した方向にMOSFETを配置したTEGを用いて,ドレイン電流,基板電流について,ソースとドレインを入れ替えたときの非対称性と配置方位依存性を解析した.その結果,ゲート長のバラツキが原因と考えられるドレイン電流,基板電流の配置方位依存性が見られた.ソースとドレインを入れ替えた非対称性については,ドレイン電流はどの配置方位でも小さいが,基板電流は,配置方位による非対称性を高い感度で検出していると考えられる. |
(英) |
n-MOSFETs with 8 different channel orientation and three kinds of process conditions were measured and symmetry of IDsat and IBmax with respect to the interchange of source and drain was examined. Although both IDsat and IBmax have similar channel orientation dependence, only IBmax in interchanged S/D measurements shows asymmetrical characteristics, which can be applied to a sensitive method for device asymmetry detection. |
キーワード |
(和) |
MOSFET / 非対称生 / 配置方位依存性 / ドレイン電流 / 基板電流 / / / |
(英) |
MOSFET / asymmetry / orientation dependence / drain current / substrate current / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 194, SDM2007-161, pp. 113-116, 2007年8月. |
資料番号 |
SDM2007-161 |
発行日 |
2007-08-16 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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