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講演抄録/キーワード
講演名 2007-07-26 09:45
実時間サンプリングモードを持つ低消費電力プロセッサ向けオンダイ電源ノイズセンサー
佐藤富夫井上淳樹塩田哲義井上智子川辺幸仁橋本鉄太郎富士通研)・今村俊文村坂佳隆永田 真岩田 穆エイアールテックICD2007-40 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2007-40
抄録 (和) オンダイの電源ノイズセンサーを開発した。電源変動のヒストグラム情報を取得し、この情報から「ノイズピーク検出窓」を定義する。この窓を使うことで、プロセッサ等の動作を邪魔することなく、リアルタイムにノイズピークを観測できる。ノイズピーク検出窓を使うことで不必要なデータを破棄しデータ量を少なくすることが可能となり、400kbpsの低コスト通信インターフェースを使ったとしても、毎秒100回程度の動作モード遷移に伴うノイズピーク観測ができることを確認した。 
(英) The real time on-die noise sensor reported here can continuously detect up to 100 noise events per a second without disturbing processor operations using 400-kbps serial interface. The noise sensor uses a histogram counters and variable detection windows. We demonstrate the sensor for measurement of periodic and single events in real-time.
キーワード (和) ノイズセンサー / 実時間サンプリング / ヒストグラム / / / / /  
(英) Noise Sensor / Real-Time Sampling / histogram / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 163, ICD2007-40, pp. 17-22, 2007年7月.
資料番号 ICD2007-40 
発行日 2007-07-19 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード ICD2007-40 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2007-40

研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2007-07-26 - 2007-07-27 
開催地(和) 神戸大学瀧川記念学術交流会館 
開催地(英)  
テーマ(和) アナログ・デジアナ・センサ、通信用LSI 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2007-07-ICD-ITE-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 実時間サンプリングモードを持つ低消費電力プロセッサ向けオンダイ電源ノイズセンサー 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On-Die Supply-Voltage Noise Sensor with Real-Time Sampling Mode for Low-Power Processor Applications 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ノイズセンサー / Noise Sensor  
キーワード(2)(和/英) 実時間サンプリング / Real-Time Sampling  
キーワード(3)(和/英) ヒストグラム / histogram  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 富夫 / Tomio Sato / サトウ トミオ
第1著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 淳樹 / Atsuki Inoue / イノウエ アツキ
第2著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 塩田 哲義 / Tetsuyoshi Shiota / シオタ テツヨシ
第3著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智子 / Tomoko Inoue / イノウエ トモコ
第4著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 川辺 幸仁 / Yukihito Kawabe / カワベ ユキヒト
第5著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 鉄太郎 / Tetsutaro Hashimoto / ハシモト テツタロウ
第6著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories Limited (略称: Fujitsu Lab.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 今村 俊文 / Toshifumi Imamura / イマムラ トシフミ
第7著者 所属(和/英) 株式会社エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corporation (略称: A-R-Tec)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 村坂 佳隆 / Yoshitaka Murasaka / ムラサカ ヨシタカ
第8著者 所属(和/英) 株式会社エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corporation (略称: A-R-Tec)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト
第9著者 所属(和/英) 株式会社エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corporation (略称: A-R-Tec)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 穆 / Atsushi Iwata / イワタ アツシ
第10著者 所属(和/英) 株式会社エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corporation (略称: A-R-Tec)
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講演者
発表日時 2007-07-26 09:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2007-40 
巻番号(vol) IEICE-107 
号番号(no) no.163 
ページ範囲 pp.17-22 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2007-07-19 


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