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講演抄録/キーワード
講演名 2007-07-13 14:55
ワイブル過程に基づいた2次元ソフトウェア信頼度成長モデル
井上真二山田 茂鳥取大R2007-26
抄録 (和) これまでに提案されているソフトウェア信頼度成長モデル(SRGM)のほとんどは,本質的に,テスト工程におけるソフトウェア信頼度成長過程がテスト時間のみに依存するものとして議論されている.しかしながら,ソフトウェア故障の発生メカニズムを考えた場合,ソフトウェア信頼度成長過程を事実上,テスト時間のみに依存して記述する多くのSRGMは,現実的側面に欠けるものと考えられる.本研究では,ソフトウェア信頼度成長過程をテスト時間とその他の信頼度成長要因を考慮した2次元時間空間上で表現する2次元SRGMの構築を行う.特に,本研究では,既存の1次元ワイブル過程モデルを取り上げ,このSRGMの時間空間をコブ・ダグラス型効用関数の考え方を用いて,2次元時間空間へ拡張し,ソフトウェア信頼性評価のための2次元ワイブル過程モデルを構築する.また,提案モデルのパラメータ推定手法やソフトウェア信頼性評価尺度についても議論すると共に,実測データを用いた提案モデルの適用例も示す. 
(英) Almost all of the software reliability growth models (SRGMs) has been developed under the assumption that the software reliability growth process in the testing-phase depends only on the testing-time essentially. However, such assumption is doubtful when we consider the software failure-occurrence mechanism. That is, we consider that the software reliability growth process depends not only on the testing-time but also the some other factors which are related to the software reliability growth process. This paper discuss a two-dimensional SRGM in which the software reliability growth process is expressed on the two-dimensional time-space. Especially in this paper, we develop a two-dimensional Weibull process model for software reliability assessment by extending an existing Weibull process model based on a notion of the Cobb-Douglas utility function. Further, we discuss a parameter estimation method of our two-dimensional SRGM, and show numerical examples of our model for two-dimensional software reliability assessment.
キーワード (和) ソフトウェア信頼性評価 / ワイブル過程 / 2次元モデル / ソフトウェア信頼度成長要因 / テスト網羅度 / コブ・ダグラス効用関数 / /  
(英) Software reliability assessment / Weibull process / two-dimensional model / software reliability growth factor / testing-coverage / Cobb-Douglas utility function / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 137, R2007-26, pp. 39-44, 2007年7月.
資料番号 R2007-26 
発行日 2007-07-06 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2007-26

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2007-07-13 - 2007-07-13 
開催地(和) 北見工業大学 
開催地(英) Kitami Institute of Technology 
テーマ(和) 信頼性一般 
テーマ(英) Reliability Engineering 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2007-07-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ワイブル過程に基づいた2次元ソフトウェア信頼度成長モデル 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Two-Dimensional Software Reliability Growth Modeling based on a Weibull Process 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトウェア信頼性評価 / Software reliability assessment  
キーワード(2)(和/英) ワイブル過程 / Weibull process  
キーワード(3)(和/英) 2次元モデル / two-dimensional model  
キーワード(4)(和/英) ソフトウェア信頼度成長要因 / software reliability growth factor  
キーワード(5)(和/英) テスト網羅度 / testing-coverage  
キーワード(6)(和/英) コブ・ダグラス効用関数 / Cobb-Douglas utility function  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ
第1著者 所属(和/英) 鳥取大学 (略称: 鳥取大)
Tottori University (略称: Tottori Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル
第2著者 所属(和/英) 鳥取大学 (略称: 鳥取大)
Tottori University (略称: Tottori Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-07-13 14:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2007-26 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.137 
ページ範囲 pp.39-44 
ページ数
発行日 2007-07-06 (R) 


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