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講演抄録/キーワード
講演名 2007-05-21 15:25
TM0m0モード円筒空洞共振器を用いた誘電体丸棒の複素誘電率の温度依存性測定
中井 宏小林禧夫埼玉大)・鈴木文生フジクラ)・馬 哲旺埼玉大MW2007-16 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2007-16
抄録 (和) TM0m0モード円筒空洞共振器の中心軸上に誘電体試料を挿入し、誘電体丸棒試料の複素誘電率(比誘電率と誘電正接)を測定する方法として、摂動法および、試料挿入孔を考慮した厳密な電磁界解析に基づく測定法が報告されている。本報告では、まず高さの異なる2つのTM0m0モード円筒空洞共振器を用いて誘電体丸棒試料を測定した結果、比誘電率の測定誤差は、摂動法のときの3~7%に対し、厳密解析では0.3%以内に改善されることを示す。なお、両方法による誘電正接の測定誤差は10%程度で一致した。さらに、厳密解析に基づいて、共振器を恒温槽内に設置し、誘電体丸棒試料挿入前後の2回の温度変化により複素誘電率の温度依存性を測定した。本方法の妥当性を検討する。 
(英) To measure the complex permittivity of a dielectric bar inserted in the center of a TM0m0 mode cylindrical cavity, a conventional perturbation method and a method based on the rigorous analysis, where the effect of sample insertion holes is taken into account, have been reported so far. In this paper, at first, a dielectric bar sample was measured by using two resonators with different heights. As a result, the measurement error of the relative permittivity was improved within 0.3% for the method based on the rigorous analysis, against 3~7% for the perturbation method. In addition, the measurement errors of the loss tangent by both methods agreed within 10%. Then one of the cavities was set in an environmental test equipment and the temperature dependence of the complex permittivity was measured on the basis of the rigorous analysis. The validity of this method is discussed.
キーワード (和) 複素誘電率測定 / 摂動法 / 温度依存性 / / / / /  
(英) Complex Permittivity Measurement / Perturbation Method / Temperature Dependent / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 49, MW2007-16, pp. 23-27, 2007年5月.
資料番号 MW2007-16 
発行日 2007-05-14 (MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード MW2007-16 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2007-16

研究会情報
研究会 MW  
開催期間 2007-05-21 - 2007-05-22 
開催地(和) 兵庫県立大学 
開催地(英) University of Hyogo 
テーマ(和) マイクロ波技術一般 
テーマ(英) Microwave Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2007-05-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) TM0m0モード円筒空洞共振器を用いた誘電体丸棒の複素誘電率の温度依存性測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Temperature Dependence Measurement of Complex Permittivity of Dielectric Bars Using TM0m0 Mode Cylindrical Cavity. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 複素誘電率測定 / Complex Permittivity Measurement  
キーワード(2)(和/英) 摂動法 / Perturbation Method  
キーワード(3)(和/英) 温度依存性 / Temperature Dependent  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中井 宏 / Hiroshi Nakai / ナカイ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ
第2著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 文生 / Fumio Suzuki / スズキ フミオ
第3著者 所属(和/英) 株式会社フジクラ (略称: フジクラ)
Fujikura.Ltd (略称: Fujikura)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 馬 哲旺 / Zhewang Ma / マ テツオウ
第4著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-05-21 15:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 MW 
資料番号 MW2007-16 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.49 
ページ範囲 pp.23-27 
ページ数
発行日 2007-05-14 (MW) 


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