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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-03-07 15:20 システムレベル設計に対する拡張システム依存グラフを利用した記述チェッカ ○安藤大介・松本剛史・西原 佑・藤田昌宏（東大） エレソ技報アーカイブへのリンク：  ICD2006-203 |
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| 抄録 | （和） | システムLSIやSoCのシステムレベル設計において，バグを早期に発見し修正することが重要である．本稿では，代表的なシステムレベル設計記述言語であるSpecC言語に対する既存のシステム依存グラフに，並列性に関する2つの依存エッジを導入する．そのシステム依存グラフ上で，並列性に関する典型的な誤りとしてデッドロックと変数への競合アクセスを静的に検出する手法を提案する．実験によって，従来のシステム依存グラフに基づく検出手法では検出が不可能であった誤りを検出でき，誤検出が少なくなったことを示す． |
| （英） | In designing system LSI or System-on-a-Chip (SoC), it is essential to find and correct design errors as early design stages as possible. In this paper, we refine the system dependence graph of SpecC, which is a C-based system-level description language, by introducing two kinds of dependence edges related to concurrency. Then, we propose a design checker which can statically detect deadlocks and race conditions as design errors by analyzing dependences on the extended system dependence graph. The preliminary experimental results show that our method can detect design errors that cannot be detected by the previous method. | |
| キーワード | （和） | 記述チェッカ / システム依存グラフ / 依存解析 / システムレベル設計 / / / / |
| （英） | Design Checker / System Dependence Graph / Dependence Analysis / System-Level Design / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 547, VLD2006-112, pp. 37-42, 2007年3月. | |
| 資料番号 | VLD2006-112 | |
| 発行日 | 2007-02-28 (VLD, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2006-203 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD VLD |
| 開催期間 | 2007-03-07 - 2007-03-09 |
| 開催地（和） | メルパルク沖縄 |
| 開催地（英） | Mielparque Okinawa |
| テーマ（和） | システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ：小林 和淑(京都大学)> |
| テーマ（英） | System-on-silicon design techniques and related VLSs |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2007-03-ICD-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | システムレベル設計に対する拡張システム依存グラフを利用した記述チェッカ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design Checker for System-Level Design using Extended System Dependence Graph |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 記述チェッカ / Design Checker |
| キーワード(2)（和/英） | システム依存グラフ / System Dependence Graph |
| キーワード(3)（和/英） | 依存解析 / Dependence Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | システムレベル設計 / System-Level Design |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安藤 大介 / Daisuke Ando / アンドウ ダイスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 剛史 / Takeshi Matsumoto / マツモト タケシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西原 佑 / Tasuku Nishihara / ニシハラ タスク |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 昌宏 / Masahiro Fujita / フジタ マサヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-03-07 15:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2006-112, ICD2006-203 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.547(VLD), no.550(ICD) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-02-28 (VLD, ICD) |
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