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講演抄録/キーワード
講演名 2007-02-23 16:55
V band導波管型微小開口プローブを用いた画像化
根岸忠弘鈴木俊達ソンブーン ティーラウィシッポン三次和弘渡辺康夫日本工大SANE2006-143
抄録 (和) 細胞などの微細な構造の解析を行う方法として,微小開口プローブの近接場における対象物による反射・透過特性を利用する方法が提案されている.ここでは特にミリ・サブミリ波帯での解析方法を確立するため,60GHz帯導波管(WR-15) の先端を導体板で塞ぎ中央に0.5mmの微小開口を設けた導波管型微小開口プローブ提案している.はじめにPTFE(テフロン)板上に溝を施した試料を製作し、製作したプローブでこの試料上を走査させることによって空間分解能の検証を行った.次にボイド検出の検証を行い,最後に自然の試料として桜の葉の画像化を行った. 
(英) For imaging of objects smaller than the wavelength, this paper presents a method of employing V band waveguide-type microscopic aperture probe and the measurement results in the transmission mode. The probe is made of WR-15 waveguide with one end shielded with metal plate, on which a 0.5mm-dia aperture is made. The experimental results to be reported are the spatial resolution measured over groove with 0.5mm depth on Teflon, void detected inside Teflon and the scanned image of a leaf with parameters of frequency, amplitude and phase.
キーワード (和) 微小開口 / エバネッセント波 / ミリ・サブミリ波 / 導波管 / / / /  
(英) Microscopic aperture / Evanescent wave / millimeter/submillimeter wave / waveguide / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 542, SANE2006-143, pp. 55-60, 2007年2月.
資料番号 SANE2006-143 
発行日 2007-02-16 (SANE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SANE2006-143

研究会情報
研究会 SANE  
開催期間 2007-02-23 - 2007-02-23 
開催地(和) 日本工業大学 
開催地(英) Nippon Institute of Technology 
テーマ(和) レーダ信号処理及び一般 
テーマ(英) Radar and its applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SANE 
会議コード 2007-02-SANE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) V band導波管型微小開口プローブを用いた画像化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Imaging by V-Band Waveguide-type Microscopic Aperture Probe 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 微小開口 / Microscopic aperture  
キーワード(2)(和/英) エバネッセント波 / Evanescent wave  
キーワード(3)(和/英) ミリ・サブミリ波 / millimeter/submillimeter wave  
キーワード(4)(和/英) 導波管 / waveguide  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 根岸 忠弘 / Tadahiro Negishi / ネギシ タダヒロ
第1著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 俊達 / Toshitatsu Suzuki / スズキ トシタツ
第2著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) ソンブーン ティーラウィシッポン / Somboon Theerawisitpong / ソンブーン ティーラウィシッポン
第3著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 三次 和弘 / Kazuhiro Mitugi / ミツギ カズヒロ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡辺 康夫 / Yasuo Watanabe / ワタナベ ヤスヲ
第5著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2007-02-23 16:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SANE 
資料番号 IEICE-SANE2006-143 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.542 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SANE-2007-02-16 


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