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講演抄録/キーワード
講演名 2007-02-16 13:55
シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について
玉井輝雄兵庫教大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2006-70
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文献情報 信学技報, vol. 106, no. 530, EMD2006-70, pp. 11-16, 2007年2月.
資料番号 EMD2006-70 
発行日 2007-02-09 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2006-70

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2007-02-16 - 2007-02-16 
開催地(和) IMPビル 5階J会議室 
開催地(英)  
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2007-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第1著者 所属(和/英) 兵庫教育大 (略称: 兵庫教大)
HYOGO UNIVERSITY OF TEACHER EDUCATION (略称: HYOGO UNIVERSITY OF TEACHER EDUCATION)
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講演者
発表日時 2007-02-16 13:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2006-49,IEICE-EMD2006-70 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.529(R), no.530(EMD) 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2007-02-09,IEICE-EMD-2007-02-09 


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