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講演抄録/キーワード
講演名 2006-12-15 09:25
ランダム曲面による空間相関の表現 ~ LSI設計でのシステムばらつき考慮方法 ~
大川眞一ルネサステクノロジ)・青木正和諏訪東京理科大)・増田弘生ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-159
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 106, no. 425, ICD2006-159, pp. 91-96, 2006年12月.
資料番号 ICD2006-159 
発行日 2006-12-07 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-159

研究会情報
研究会 ICD ITE-CE  
開催期間 2006-12-14 - 2006-12-15 
開催地(和) (財)広島産業振興機構 広島県情報プラザ 
開催地(英)  
テーマ(和) デジタル・情報家電、放送用、ゲーム機用システムLSI、回路技術(一般、超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチュア)<オーガナイザ:岩田 穆(広島大学)> 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2006-12-ICD-ITE-CE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ランダム曲面による空間相関の表現 
サブタイトル(和) LSI設計でのシステムばらつき考慮方法 
タイトル(英) A Novel Expression of Spatial Correlation with Random Curved Surface 
サブタイトル(英) The Methodology of Consideration of Systematic Variation in LSI Design 
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大川 眞一 / Shin-ichi Ohkawa / オオカワ シンイチ
第1著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサス テクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 正和 / Masakazu Aoki / アオキ マサカズ
第2著者 所属(和/英) 諏訪東京理科大学 (略称: 諏訪東京理科大)
Tokyo University of Science, SUWA (略称: Tokyo University of Science, SUWA)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 弘生 / Hiroo Masuda / マスダ ヒロオ
第3著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサス テクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
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講演者 第7著者 
発表日時 2006-12-15 09:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2006-159 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.425 
ページ範囲 pp.91-96 
ページ数
発行日 2006-12-07 (ICD) 


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