講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-09-25 13:30
CMOSイメージセンサの感度特性と評価 ○金 允ギョン・池田 誠・浅田邦博(東大) エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2006-155 |
抄録 |
(和) |
CMOS技術は微細化しつつある。それに従い、CMOSイメージセンサの感度特性も低下していく。高感度イメージセンサは、各プロセスにおける感度特性のスケーリングはCMOSイメージセンサの設計に重要である。本稿では、CMOS 0.35um、0.6umプロセスによるイメージセンサの感度特性を測定した結果を報告する。また、微細化の進んだプロセスの感度特性をスケーリングし、評価した。 |
(英) |
CMOS based imagers are beginning to compete aganinst CCDs in many areas of the consumer market because of their system-on-a-chip capability. Sensitivity, however, is a main weakness of CMOS imagers and the enhancements and deviations from standard CMOS processes are required to keep up sensitivity with downscaled process generation.
In this brief, the sensitivity characteristics of CMOS image sensor using a standard CMOS process technology are discussed. Spectral sensitivity and quantum efficiency among the sensitivities aremainly represented.
Moreover, sensitivity characteristics is scaled in advanced processes. |
キーワード |
(和) |
CMOSイメージセンサ / 感度 / / / / / / |
(英) |
CMOS image sensor / sensitivity / / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 254, VLD2006-34, pp. 1-5, 2006年9月. |
資料番号 |
VLD2006-34 |
発行日 |
2006-09-18 (VLD, SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2006-155 |
研究会情報 |
研究会 |
SDM VLD |
開催期間 |
2006-09-25 - 2006-09-26 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
テーマ(英) |
Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
VLD |
会議コード |
2006-09-SDM-VLD |
本文の言語 |
英語(日本語タイトルあり) |
タイトル(和) |
CMOSイメージセンサの感度特性と評価 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Sensitivity of CMOS Image Sensor and Scaling |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor |
キーワード(2)(和/英) |
感度 / sensitivity |
キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
金 允ギョン / YunKyung Kim / キム ユンギョン |
第1著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
池田 誠 / Makoto Ikeda / イケダ マコト |
第2著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2006-09-25 13:30:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
VLD |
資料番号 |
VLD2006-34, SDM2006-155 |
巻番号(vol) |
vol.106 |
号番号(no) |
no.254(VLD), no.256(SDM) |
ページ範囲 |
pp.1-5 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2006-09-18 (VLD, SDM) |
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