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講演抄録/キーワード
講演名 2006-09-25 13:30
CMOSイメージセンサの感度特性と評価
金 允ギョン池田 誠浅田邦博東大エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2006-155
抄録 (和) CMOS技術は微細化しつつある。それに従い、CMOSイメージセンサの感度特性も低下していく。高感度イメージセンサは、各プロセスにおける感度特性のスケーリングはCMOSイメージセンサの設計に重要である。本稿では、CMOS 0.35um、0.6umプロセスによるイメージセンサの感度特性を測定した結果を報告する。また、微細化の進んだプロセスの感度特性をスケーリングし、評価した。 
(英) CMOS based imagers are beginning to compete aganinst CCDs in many areas of the consumer market because of their system-on-a-chip capability. Sensitivity, however, is a main weakness of CMOS imagers and the enhancements and deviations from standard CMOS processes are required to keep up sensitivity with downscaled process generation.
In this brief, the sensitivity characteristics of CMOS image sensor using a standard CMOS process technology are discussed. Spectral sensitivity and quantum efficiency among the sensitivities aremainly represented.
Moreover, sensitivity characteristics is scaled in advanced processes.
キーワード (和) CMOSイメージセンサ / 感度 / / / / / /  
(英) CMOS image sensor / sensitivity / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 254, VLD2006-34, pp. 1-5, 2006年9月.
資料番号 VLD2006-34 
発行日 2006-09-18 (VLD, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2006-155

研究会情報
研究会 SDM VLD  
開催期間 2006-09-25 - 2006-09-26 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit Simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2006-09-SDM-VLD 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) CMOSイメージセンサの感度特性と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Sensitivity of CMOS Image Sensor and Scaling 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor  
キーワード(2)(和/英) 感度 / sensitivity  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 金 允ギョン / YunKyung Kim / キム ユンギョン
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 池田 誠 / Makoto Ikeda / イケダ マコト
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
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講演者 第1著者 
発表日時 2006-09-25 13:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2006-34, SDM2006-155 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.254(VLD), no.256(SDM) 
ページ範囲 pp.1-5 
ページ数
発行日 2006-09-18 (VLD, SDM) 


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