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講演抄録/キーワード
講演名 2006-09-14 15:45
複数の回路構成情報を用いたチップ内ばらつきを有するFPGAの歩留り向上手法の提案
松本洋平日置雅和河並 崇産総研)・堤 利幸明大)・中川 格関川敏弘小池帆平産総研
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 106, no. 246, RECONF2006-25, pp. 29-34, 2006年9月.
資料番号 RECONF2006-25 
発行日 2006-09-07 (RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 RECONF  
開催期間 2006-09-14 - 2006-09-15 
開催地(和) 熊本大学 工学部百周年記念館 
開催地(英) Kumamoto Univ. 
テーマ(和) リコンフィギャラブルシステム,一般 
テーマ(英) Reconfigurable Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RECONF 
会議コード 2006-09-RECONF 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 複数の回路構成情報を用いたチップ内ばらつきを有するFPGAの歩留り向上手法の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Yield enhancement of FPGAs with intra-die variation using multiple configuration data 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 洋平 / Yohei Matsumoto / マツモト ヨウヘイ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 日置 雅和 / Masakazu Hioki / ヒオキ マサカズ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 河並 崇 / Takashi Kawanami / カワナミ タカシ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ
第4著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中川 格 / Tadashi Nakagawa / ナカガワ タダシ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 関川 敏弘 / Toshihiro Sekigawa / セキガワ トシヒロ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 小池 帆平 / Hanpei Koike / コイケ ハンペイ
第7著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2006-09-14 15:45:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 RECONF 
資料番号 RECONF2006-25 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.246 
ページ範囲 pp.29-34 
ページ数
発行日 2006-09-07 (RECONF) 


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