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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2006-08-25 11:15 MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討 ○池田 明（日大）・大塚由紀子（東大）・藤井陽一（日大）  OFT2006-28 |
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| 抄録 | （和） | 電気光学デバイスの性能は、導波路の特性に依存する。各々のデバイスに適する導波路を選択するためには、導波路の材料・作製過程の違いによる導波層の光学的・物理的特性の違いについて詳細な研究が必要である。 ニオブ酸リチウム(LN)結晶を用いた導波路デバイスは光情報処理分野への応用が期待できるが、その際、レーザ光を入射する時の光損傷（フォトリフラクティブ効果）によるLN結晶の屈折率変化が問題となる。 本研究では、短波長光源（Ar-ionレーザ）を用いて、光損傷特性の実験的研究を行った。この温度依存性による比較を行い、またプロトン交換導波路を電気光学デバイスに応用する際に問題となる電界依存性による比較を行い、この特性の実用的問題について検討した。 |
| （英） | There has been a great demand for the electrooptic devices for both the optical communication and sensor applications, and the nonlinear-optical devices. The properties of these devices are highly dependent on the waveguide fabrication process. In order to find the waveguide fabrication techniques and the optimum fabrication conditions suitable for each devices, the exact estimation of the optical and physical properties of the waveguides becomes necessary. The proton-exchanged waveguide formed on MgO-doped lithium niobate (LN) crystals is expected to be resistant to optical damage (photorefractive effect). So this crystal is the attractive material for optical information and processing applications. In this report, the temperature and electric field dependences of the photorefractive effect are investigated. |
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| キーワード | （和） | 光導波路 / ニオブ酸リチウム / 光損傷効果 / プロトン交換 / 光損傷感度 / / / |
| （英） | optical waveguides / lithium niobate / photorefractive effect / proton-exchange / photorefractive sensitivity / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 211, OFT2006-28, pp. 69-74, 2006年8月. | |
| 資料番号 | OFT2006-28 | |
| 発行日 | 2006-08-17 (OFT) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OFT2006-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS OFT |
| 開催期間 | 2006-08-24 - 2006-08-25 |
| 開催地（和） | 東北大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 次世代伝送用ファイバ、機能性光ファイバ、フォトニック結晶ファイバ、ファイバ非線形現象、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OFT |
| 会議コード | 2006-08-OCS-OFT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Temperature and Electric Field Dependences of Optical Damage in Proton-Exchanged Waveguides Formed on MgO-Doped Lithium Niobate Crystals |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光導波路 / optical waveguides |
| キーワード(2)（和/英） | ニオブ酸リチウム / lithium niobate |
| キーワード(3)（和/英） | 光損傷効果 / photorefractive effect |
| キーワード(4)（和/英） | プロトン交換 / proton-exchange |
| キーワード(5)（和/英） | 光損傷感度 / photorefractive sensitivity |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 池田 明 / Akira Ikeda / イケダ アキラ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大塚 由紀子 / Yukiko Otsuka / オオツカ ユキコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学生産技術研究所 (略称： 東大) Institute of Industial Science, University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤井 陽一 / Yoichi Fujii / フジイ ヨウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2006-08-25 11:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OFT |
| 資料番号 | OFT2006-28 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.211 |
| ページ範囲 | pp.69-74 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2006-08-17 (OFT) |
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