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講演抄録/キーワード
講演名 2006-08-24 15:35
低損失スポットサイズ変換付きポリシラン光導波路1×Nスプリッタの光学特性
須田俊央フォトニックサイエンステクノロジ)・小林壮一澤田昌幸宮川俊紀須貝裕樹千歳科技大)・小倉公平津島 宏日本ペイントエレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2006-32 CPM2006-62 OPE2006-74 LQE2006-39
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文献情報 信学技報, vol. 106, no. 214, OPE2006-74, pp. 39-42, 2006年8月.
資料番号 OPE2006-74 
発行日 2006-08-17 (EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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研究会情報
研究会 EMD CPM LQE OPE  
開催期間 2006-08-24 - 2006-08-25 
開催地(和) 千歳アルカディア・プラザ 
開催地(英) Chitose Arcadia Plaza 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OPE 
会議コード 2006-08-EMD-CPM-LQE-OPE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 低損失スポットサイズ変換付きポリシラン光導波路1×Nスプリッタの光学特性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Optical characteristics of Polisilane 1×N splitterwith Spot-size converter 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 須田 俊央 / Toshihiro Suda / スダ トシヒロ
第1著者 所属(和/英) フォトニックサイエンステクノロジ株式会社 (略称: フォトニックサイエンステクノロジ)
Photonic science technology, Inc. (略称: PSTI)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 壮一 / Soichi Kobayashi / コバヤシ ソウイチ
第2著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technologytechnology, Inc. (略称: CIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤田 昌幸 / Masayuki Sawada / サワダ マサユキ
第3著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technologytechnology, Inc. (略称: CIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮川 俊紀 / ToshinoriMiyakawa / ミヤカワ トシノリ
第4著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technologytechnology, Inc. (略称: CIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 須貝 裕樹 / Yuki Sugai / スガイ ユウキ
第5著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technologytechnology, Inc. (略称: CIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 小倉 公平 / Kohei Ogura / オグラ コウヘイ
第6著者 所属(和/英) 日本ペイント株式会社 (略称: 日本ペイント)
NIPPON PAINT Co.,Ltd. (略称: NPC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 津島 宏 / Hiroshi Tsushima / ツシマ ヒロシ
第7著者 所属(和/英) 日本ペイント株式会社 (略称: 日本ペイント)
NIPPON PAINT Co.,Ltd. (略称: NPC)
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講演者
発表日時 2006-08-24 15:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 OPE 
資料番号 IEICE-EMD2006-32,IEICE-CPM2006-62,IEICE-OPE2006-74,IEICE-LQE2006-39 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.212(EMD), no.213(CPM), no.214(OPE), no.215(LQE) 
ページ範囲 pp.39-42 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2006-08-17,IEICE-CPM-2006-08-17,IEICE-OPE-2006-08-17,IEICE-LQE-2006-08-17 


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