講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-08-17 10:55
ランプ波形分割方式を用いたオンチップサンプリングオシロスコープ ○稲垣賢一(東大)・ダナルドノ ドゥイ アントノ(ソニー)・高宮 真(東大)・熊代成孝(NECエレクトロニクス)・桜井貴康(東大) エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2006-129 ICD2006-83 |
抄録 |
(和) |
90nm CMOSプロセスにおいて、タイミング生成にランプ波形分割方式を用いた最高1psの時間分解能をもつオンチップサンプリングオシロスコープを開発した。時間分解能は1psから64psまで64段階で変化させることができる。本オシロスコープはシグナルインテグリティおよび電源インテグリティの精密測定に利用可能である。新しい配線特性抽出法についても提案した。 |
(英) |
An on-chip sampling oscilloscope with 1ps timing resolution is realized in 90nm CMOS process based on a proposed ramp waveform division scheme for precise signal integrity and power-line integrity measurement. The resolution in time is variable from 1ps to 64ps in 64 steps. A novel on-chip inductance measurement procedure is also proposed. |
キーワード |
(和) |
サンプリングオシロスコープ / シグナルインテグリティ / / / / / / |
(英) |
sampling oscilloscope / signal integrity / / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 207, ICD2006-83, pp. 25-30, 2006年8月. |
資料番号 |
ICD2006-83 |
発行日 |
2006-08-10 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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