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講演抄録/キーワード
講演名 2006-07-28 12:00
高感度集積化磁界プローブによる高周波磁気イメージング
青山 聡川人祥二静岡大)・山口正洋東北大エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-72
抄録 (和) 近傍磁界計測のための新しいタイプの高感度、高空間分解能を持ったアクティブ型磁界プローブを開発した。
CMOS-SOI(Silicon On Insulator)プロセスを用い、検出コイル、2段差動アンプ、差動-シングルエンド変換回路、出力バッファ、周辺バイアス回路をすべて1つのチップに集積化している。
本プローブでは検出コイルを差動構造とし、差動-シングルエンド変換回路に高い同相信号除去特性を持たせることで、放射電磁波内の電界成分を除去し、磁界成分を選択的に検出する。
試作したプローブによる2次元磁界分布測定においては、従来のシールディッドループコイルに比べて高精細なノイズマップ画像が得られた。また、アレイ化したプローブによるスイッチングスキャン動作を行うことで、ミクロンレベルの磁界プローブとしては初めての多点同時測定を実現した。 
(英) A novel magnetic probe has been designed and fabricated in a 0.15 $\mu m$ five-metal CMOS-SOI technology, in order to achieve both high sensitivity and high spatial resolution.
A detecting coil, a 2-stage differential amplifier, a differential to single-ended converter, an output buffer and other peripheral circuits are all integrated on a single chip. The probe has a feature to distinguish magnetic field from the detected electromagnetic emissions, by means of a 2-turn differential coil structure and a circuit technique of a wideband differential-to-single-ended converter with the high common mode rejection.
A 2D magnetic distribution map has been drawn by the fabricated active probe, and the obtained image is finer than that of a shielded loop coil. Furthermore, the concurrent measurement of the magnetic field with three aligned minute active probes has been demonstrated using electrical switching.
キーワード (和) 磁界プローブ / アクティブプローブ / アレイ / 近傍磁界計測 / CMOS-SOI / EMC / EMI /  
(英) Magnetic Probe / Active Probe / Array / Near Field Measurement / CMOS-SOI / EMC / EMI /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 189, ICD2006-72, pp. 67-72, 2006年7月.
資料番号 ICD2006-72 
発行日 2006-07-20 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-72

研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2006-07-27 - 2006-07-28 
開催地(和) 静岡大学(浜松キャンパス内) 
開催地(英)  
テーマ(和) イメージセンサのインターフェース回路、アナログ、および一般 <オーガナイザ:太田 淳(奈良先端大)> 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2006-07-ICD-ITE-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高感度集積化磁界プローブによる高周波磁気イメージング 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High frequency magnetic imaging with a high sensitivity integrated magnetic probe 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 磁界プローブ / Magnetic Probe  
キーワード(2)(和/英) アクティブプローブ / Active Probe  
キーワード(3)(和/英) アレイ / Array  
キーワード(4)(和/英) 近傍磁界計測 / Near Field Measurement  
キーワード(5)(和/英) CMOS-SOI / CMOS-SOI  
キーワード(6)(和/英) EMC / EMC  
キーワード(7)(和/英) EMI / EMI  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 青山 聡 / Satoshi Aoyama / アオヤマ サトシ
第1著者 所属(和/英) 静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 川人 祥二 / Shoji Kawahito / カワヒト ショウジ
第2著者 所属(和/英) 静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 正洋 / Masahiro Yamaguchi / ヤマグチ マサヒロ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者
発表日時 2006-07-28 12:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2006-72 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.189 
ページ範囲 pp.67-72 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2006-07-20 


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