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講演抄録/キーワード
講演名 2006-07-27 10:00
差動構成VCOにおけるデジタル・クロストーク雑音の評価
外谷昭洋広島大)・村坂佳隆大本貴文エイアールテック)・岩田 穆広島大/エイアールテックエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-60
抄録 (和) CMOS集積回路の高速化に伴い,RF回路と論理回路を混載したシステムオンチップ(RF-SOC)が無線システムや高速ネットワークのキーデバイスになっている.RF-SOCを実現するためには,高精度,高品質な発振出力が得られる発振回路を大規模なディジタル回路にオンチップ化することが要求される.本報告では発振回路として差動制御入力型LC-VCO,基準となる単相制御入力型VCO,雑音源となるCMOS論理回路,および基板雑音検出回路を同チップ上に搭載した0.25um CMOSテストチップを設計・試作した.試作したテストチップを用いてVCO発振出力と基板雑音と同時に測定して,クロストーク雑音の影響を調べた.その結果,差動制御型VCOが低周波雑音に対する耐性が高いという結果を得た 
(英) In accordance with the rapid increase of operation frequencies of CMOS circuits, radio-frequency system-on-a-chip (RF-SOC) that integrates GHz-RF circuits and large-scale digital circuits becomes a key devices for wireless systems and high speed networks. To develop high performance RF-SOC, high quality PLL (Phase-Locked -Loop) in the presence of cross talk noise generated by high-speed and large-scale digital circuits are required as oscillators or clock generators.
We designed a test chip including a proposed differential input VCO, CMOS logic circuits and substrate noise detectors using a 0.25um CMOS technology, and measured characteristics of output jitter of the VCO to investigate the effect of the substrate crosstalk noise. As a result, the proposed differential input VCO is high tolerance for low-frequency noise in comparison with a conventional single-input VCO.
キーワード (和) VCO / 基板雑音 / クロストーク雑音 / サイクルジッタ / サイクル・トゥ・サイクルジッタ / / /  
(英) VCO / Substrate noise / Cross-talk noise / Cycle jitter / Cycle-to-cycle jitter / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 189, ICD2006-60, pp. 1-6, 2006年7月.
資料番号 ICD2006-60 
発行日 2006-07-20 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-60

研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2006-07-27 - 2006-07-28 
開催地(和) 静岡大学(浜松キャンパス内) 
開催地(英)  
テーマ(和) イメージセンサのインターフェース回路、アナログ、および一般 <オーガナイザ:太田 淳(奈良先端大)> 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2006-07-ICD-ITE-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 差動構成VCOにおけるデジタル・クロストーク雑音の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of Digital Crosstalk Noise to fully DIfferential VCO 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) VCO / VCO  
キーワード(2)(和/英) 基板雑音 / Substrate noise  
キーワード(3)(和/英) クロストーク雑音 / Cross-talk noise  
キーワード(4)(和/英) サイクルジッタ / Cycle jitter  
キーワード(5)(和/英) サイクル・トゥ・サイクルジッタ / Cycle-to-cycle jitter  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 外谷 昭洋 / Akihiro Toya / トヤ アキヒロ
第1著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 村坂 佳隆 / Yoshitaka Murasaka / ムラサカ ヨシタカ
第2著者 所属(和/英) (株)エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corp. (略称: A-R-Tec Corp.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大本 貴文 / Takafumi Ohmoto / オオモト タカフミ
第3著者 所属(和/英) (株)エイアールテック (略称: エイアールテック)
A-R-Tec Corp. (略称: A-R-Tec Corp.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 穆 / Atsushi Iwata / イワタ アツシ
第4著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大/エイアールテック)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
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講演者
発表日時 2006-07-27 10:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2006-60 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.189 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2006-07-20 


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