講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-07-27 10:20
LECCS-I/Oモデルの広帯域化を目的とした3ポートSパラメータ測定によるインピーダンスパラメータ抽出法の検討 ○大崎瑛弘・五百旗頭健吾・豊田啓孝・古賀隆治(岡山大)・和田修己(京大) EMCJ2006-21 |
抄録 |
(和) |
筆者らが提案しているディジタルICのEMCマクロモデル(LECCS-I/O)の広帯域化のため, Sパラメータ測定に基づくインピーダンスパラメータ抽出法について検討した.まず, 従来モデルにおいて電源-グランド間インピーダンスのシミュレーション精度が高周波で低下する原因を調べたところ, 2ポートSパラメータ測定ではIC入力端子に接続された外部回路の影響がモデルのインピーダンスパラメータに現れることが判明した. そこで, IC内部の等価回路と外部回路を分離するためICの入力部を考慮した線形等価回路(LEC)のモデルを構築し,3ポートSパラメータ測定によるパラメータ抽出を検討した. ICの外部負荷や入力端子に接続する回路を変化させた時のインピーダンスシミュレーションを行ったところ, 従来モデルと比較してより高い周波数までモデルのシミュレーション精度が向上した. |
(英) |
This report discusses impedance determination of a linear equivalent circuit (LEC) in an EMC macro model, LECCS I/O. The 2-port LECCS I/O model the authors had proposed based on 2-port measurement by a vector network analyzer (VNA) was found to be affected by an external circuit connected to the input terminals of CMOS gates. To remove the defect, this report investigated a 3-port LECCS I/O modelwith 3-port VNA. The
3-port model includes the input circuit of CMOS gates and the three ports of the model mean the power-supply terminal, the output terminal, and the input terminal to the ground terminal. The proposed 3-port model with 3-port VNA was used for power-ground impedance simulation by changing the impedances of external input and output circuits. As a result, the impedance simulation was in good agreement with measurements higher frequency range compared with the previous 2-port model with 2-port VNA. |
キーワード |
(和) |
広帯域化 / EMCマクロモデル / LECCS-I/Oモデル / 3ポートSパラメータ測定 / パラメータ抽出法 / 電源-グランド間インピーダンス / / |
(英) |
Broadband / EMC macro-model / LECCS-I/O model / 3-port VNA measurement / Parameter determination / Power-GND impedance / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 182, EMCJ2006-21, pp. 17-22, 2006年7月. |
資料番号 |
EMCJ2006-21 |
発行日 |
2006-07-20 (EMCJ) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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