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講演抄録/キーワード
講演名 2006-06-16 12:00
自己連想記憶を利用した顔認証方式の性能評価
鹿毛裕史渡邉信太郎田中健一久間和生三菱電機
抄録 (和) 顔画像による個人認証では登録画像と照合画像の二枚から本人かどうかを判定する。運用状況によっては部分隠れや表情変化等、既存の顔認証エンジンでは許容し難い照合画像が得られ、性能低下の一因となっている。この問題に自己連想記憶を適用し、登録画像から構築した想起行列を経由して得られる照合画像からの想起画像を利用して、顔認証システムの性能がどの程度改善するかについて評価した。41人を動員した顔認証実験で取得した登録・照合用顔画像による評価では、Equal Error Rateが20%から15%に改善する結果を得た。本発表では登録者の増大とともに劣化する想起能力についても検討を加え、現状の課題を明らかにする。 
(英) In some situations of face authentication by face images, the system performance will be degraded caused by partial occlusion, facial expression, and so on. Therefore we applied the framework of auto-associative memory to cope with this problem, and evaluated the degree of improvement of the system performance compared to the original one. The face images were collected from forty-one persons as an experiment. As a result, we obtained an improvement of equal error rate from 20% down to 15%. We also referred to the degraded performance brought about by the increase of the number of registered persons.
キーワード (和) 自己連想記憶 / 顔画像認識 / 部分隠れ / 表情変形 / 他人受入 / 本人拒否 / /  
(英) Auto-associative Memory / Face Recognition / Occlusion-tolerant / False Rejection / False Acceptance / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 102, NC2006-30, pp. 47-52, 2006年6月.
資料番号 NC2006-30 
発行日 2006-06-09 (NC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 NC  
開催期間 2006-06-15 - 2006-06-16 
開催地(和) OIST 
開催地(英) OIST 
テーマ(和) 「機械学習によるバイオデータマインニング」および「一般」 
テーマ(英) Bio-data Mining with Machine Learning and General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NC 
会議コード 2006-06-NC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 自己連想記憶を利用した顔認証方式の性能評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Performance estimation of face authentication based on auto-associative memory 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 自己連想記憶 / Auto-associative Memory  
キーワード(2)(和/英) 顔画像認識 / Face Recognition  
キーワード(3)(和/英) 部分隠れ / Occlusion-tolerant  
キーワード(4)(和/英) 表情変形 / False Rejection  
キーワード(5)(和/英) 他人受入 / False Acceptance  
キーワード(6)(和/英) 本人拒否 /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鹿毛 裕史 / Hiroshi Kage / カゲ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 三菱電機(株)先端技術総合研究所 (略称: 三菱電機)
Advanced Technology R&D center, Mitsbubishi Electric Corporation (略称: Mitsbubishi Electric Corp.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邉 信太郎 / Shitaro Watanabe / ワタナベ シンタロウ
第2著者 所属(和/英) 三菱電機(株)先端技術総合研究所 (略称: 三菱電機)
Advanced Technology R&D center, Mitsbubishi Electric Corporation (略称: Mitsbubishi Electric Corp.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 健一 / Ken-ichi Tanaka / タナカ ケンイチ
第3著者 所属(和/英) 三菱電機(株)先端技術総合研究所 (略称: 三菱電機)
Advanced Technology R&D center, Mitsbubishi Electric Corporation (略称: Mitsbubishi Electric Corp.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 久間 和生 / Kazuo Kyuma / キュウマ カズオ
第4著者 所属(和/英) 三菱電機(株) (略称: 三菱電機)
Mitsbubishi Electric Corporation (略称: Mitsbubishi Electric Corp.)
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講演者
発表日時 2006-06-16 12:00:00 
発表時間 20 
申込先研究会 NC 
資料番号 IEICE-NC2006-30 
巻番号(vol) IEICE-106 
号番号(no) no.102 
ページ範囲 pp.47-52 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-NC-2006-06-09 


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