| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-04-21 10:30
デザインパターン検出のためのテストケース作成支援
○坂本良太・林 晋平・佐伯元司（東工大） |
| 抄録 |
（和） |
既存プログラムの理解を助けるために，使用されているデザインパターンを動的解析を用いて検出する研究が行われている．検出が有効に行われるためには，動的解析の際にパターンが使用されている部分を実行する必要があり，これを満たすテストケースを作成することが求められる．そこで，本稿ではデザインパターン検出の際に行う動的解析に用いるテストケースの作成を効果的に行う手法を提案する．提案手法では，まずプログラムを静的解析し，パターン候補を識別する．そして，各候補に対して，あらかじめ用意しておいた雛型からテストケースを作成する．このとき，人手で行うメソッドの入力引数の決定を容易にするために支援情報を提示する．提案手法を実装し，動的解析を行う既存のデザインパターン検出ツールを用いて適用実験を行い，本手法の有効性を示した． |
| （英） |
To help with understanding of existing programs, some researches to detect occurrences of design patterns via dynamic analysis has been carried out. In order to detect patterns via dynamic analysis, we need the test cases to execute the part where patterns are actually used. In this paper, we propose the technique for generating test cases effectively which are used for dynamic analysis of design pattern detection. First, to pick pattern candidates up, we analyze the program statically. Then, for each candidates, we generate test cases from the templates which are already defined. At this time, we decide arguments of methods by hands with provided support information. We show the effectiveness of our technique by implementing the supporting tool, and conducting experiments with the existing design pattern detection tool which performed dynamic analysis. |
| キーワード |
（和） |
デザインパターン / 動的解析 / テストケース / JML / / / / |
| （英） |
Design Pattern / Dynamic Analysis / Test Case / JML / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 16, SS2006-9, pp. 7-12, 2006年4月. |
| 資料番号 |
SS2006-9 |
| 発行日 |
2006-04-14 (SS) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
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