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講演抄録/キーワード
講演名 2006-03-17 15:25
NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について
奥富秀俊金田 学東芝情報システム)・山口健二中村勝洋千葉大
抄録 (和) 統計的な乱数性能の評価手段としてNIST乱数検定が広く使われている.本稿では,NIST乱数検定のPROPORTION(合格比率)評価における疑問点について触れ,より明確な評価を与えるためには,検定を多数回繰り返す必要があるとした上で,実測値が二項分布に適合しているか否かを見るといった評価法を検討し,該評価法を用いて今日の代表的な乱数生成法であるDESとSHA-1を利用した生成法の評価を実施した.その結果,該評価法の有用性を示せたので,今後の課題も含めて報告する. 
(英) NIST randomness test is widely used today as statistical evaluation method of the randomness. In this paper, at first, we describe some improper points in the evaluation of the success proportion in the NIST randomness test and next we propose more clear evaluation method in the PROPORTION. The method we propose is achieved repeating the NIST randomness test as many times and observing the degree of the matching between the measurement value's distribution and theoretical distribution (binominal distribution). Using this evaluation method, we show the evaluated results in the success proportion about the sequences generated by DES and SHA-1. Finally, we describe the usefulness of the proposed method using these results.
キーワード (和) NIST SP.800-22 / 乱数検定 / PROPORTION(合格比率) / 二項分布 / / / /  
(英) NIST SP.800-22 / randomness test / proportion / binomial distribution / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 664, ISEC2005-165, pp. 79-84, 2006年3月.
資料番号 ISEC2005-165 
発行日 2006-03-10 (IT, ISEC, WBS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 WBS IT ISEC  
開催期間 2006-03-16 - 2006-03-17 
開催地(和) 名古屋大学(東山キャンパスIB電子情報館) 
開催地(英) Nagoya Univ. 
テーマ(和) 情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ISEC 
会議コード 2006-03-WBS-IT-ISEC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On the Randomness Evaluation Method Using NIST Randomness Test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) NIST SP.800-22 / NIST SP.800-22  
キーワード(2)(和/英) 乱数検定 / randomness test  
キーワード(3)(和/英) PROPORTION(合格比率) / proportion  
キーワード(4)(和/英) 二項分布 / binomial distribution  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 奥富 秀俊 / Hidetoshi Okutomi / オクトミ ヒデトシ
第1著者 所属(和/英) 東芝情報システム株式会社 (略称: 東芝情報システム)
TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS (JAPAN) CORPORATION (略称: TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 金田 学 / Manabu Kaneda / カネダ マナブ
第2著者 所属(和/英) 東芝情報システム株式会社 (略称: 東芝情報システム)
TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS (JAPAN) CORPORATION (略称: TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 健二 / Kenji Yamaguchi / ヤマグチ ケンジ
第3著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 勝洋 / Katsuhiro Nakamura / ナカムラ カツヒロ
第4著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
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講演者
発表日時 2006-03-17 15:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ISEC 
資料番号 IEICE-IT2005-108,IEICE-ISEC2005-165,IEICE-WBS2005-122 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.662(IT), no.664(ISEC), no.666(WBS) 
ページ範囲 pp.79-84 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-IT-2006-03-10,IEICE-ISEC-2006-03-10,IEICE-WBS-2006-03-10 


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