講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-03-16 10:45
微細素子のパラメータばらつきによる耐タンパーLSIの劣化と対策 ○山内裕史・池田 誠・浅田邦博(東大) |
抄録 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 663, ISEC2005-136, pp. 87-92, 2006年3月. |
資料番号 |
ISEC2005-136 |
発行日 |
2006-03-09 (IT, ISEC, WBS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
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研究会情報 |
研究会 |
WBS IT ISEC |
開催期間 |
2006-03-16 - 2006-03-17 |
開催地(和) |
名古屋大学(東山キャンパスIB電子情報館) |
開催地(英) |
Nagoya Univ. |
テーマ(和) |
情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ISEC |
会議コード |
2006-03-WBS-IT-ISEC |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
微細素子のパラメータばらつきによる耐タンパーLSIの劣化と対策 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Degradation of tamper resistant LSI by parameter variation of scaled devices and its countermeasures |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山内 裕史 / Hiroshi Yamauchi / ヤマウチ ヒロシ |
第1著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
池田 誠 / Makoto Ikeda / イケダ マコト |
第2著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2006-03-16 10:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
ISEC |
資料番号 |
IT2005-79, ISEC2005-136, WBS2005-93 |
巻番号(vol) |
vol.105 |
号番号(no) |
no.661(IT), no.663(ISEC), no.665(WBS) |
ページ範囲 |
pp.87-92 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2006-03-09 (IT, ISEC, WBS) |
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