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講演抄録/キーワード
講演名 2006-03-10 15:35
ワースト条件をなくした低電圧SoC向けオンチップPVT制御システムの提案
行天隆幸森下 玄ルネサステクノロジ)・岡本真子大王電機)・堂阪勝己有本和民ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-249
抄録 (和) 本稿では,オンチップで低電圧時にワースト条件でのマージンを持たせた新しいPVT制御システムとして、AVM(Adaptive Voltage Management)を提案する。提案するAVMは、異なる温度特性を持つ2つのオシレータによって温度を正確に検知し、ルックアップテーブルを用いてプロセス条件に最適な特性となるように電圧レベルを制御する。また、AVMは動作点を低くすることによって電圧が低い場合でも高い供給能力を確保できるレギュレータを搭載しており、低電圧時でも安定した電源を供給できる。提案した回路を搭載したテストチップを90nm CMOSプロセスで試作を行い、所望の温度-電圧特性を正確に実現すること、及び低電圧時においても安定した電源供給を確保できることを確認した。 
(英) In this paper, we propose on-chip PVT (process, voltage, and temperature) control system for worst-caseless lower voltage SoC design that consist of the adaptive voltage management (AVM). The proposed AVM accurately detects the temperature by two oscillators that have different temperature characteristics, and controls to set the most suitable voltage level with table look-up method. And AVM can be supplied higher drivability even at lower voltage by lowering operating point of the comparator in the regulator. The experimental chip is fabricated on 90nm CMOS process and confirmed the proposed architecture accurately controls the voltage level and the operation margin securing at the lower voltage.
キーワード (和) PVTばらつき / 温度検知 / シリーズレギュレータ / / / / /  
(英) PVT variations / temperature detection / series regulator / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 647, ICD2005-249, pp. 61-66, 2006年3月.
資料番号 ICD2005-249 
発行日 2006-03-03 (VLD, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-249

研究会情報
研究会 ICD VLD  
開催期間 2006-03-09 - 2006-03-10 
開催地(和) メルパルク沖縄 
開催地(英)  
テーマ(和) システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ 池田誠(東京大学VDEC)> 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2006-03-ICD-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ワースト条件をなくした低電圧SoC向けオンチップPVT制御システムの提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An On-chip PVT Control System for Worst-caseless Lower Voltage SoC Design 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) PVTばらつき / PVT variations  
キーワード(2)(和/英) 温度検知 / temperature detection  
キーワード(3)(和/英) シリーズレギュレータ / series regulator  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 行天 隆幸 / Takayuki Gyohten / ギョウテン タカユキ
第1著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 森下 玄 / Fukashi Morishita / モリシタ フカシ
第2著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡本 真子 / Mako Okamoto / オカモト マコ
第3著者 所属(和/英) 大王電機 (略称: 大王電機)
Daioh Electric Corporation (略称: Daioh Electric Corp.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 堂阪 勝己 / Katsumi Dosaka / ドウサカ カツミ
第4著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 有本 和民 / Kazutami Arimoto / アリモト カズタミ
第5著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
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講演者
発表日時 2006-03-10 15:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-VLD2005-132,IEICE-ICD2005-249 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.645(VLD), no.647(ICD) 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2006-03-03,IEICE-ICD-2006-03-03 


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