講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-11-12 10:40
3c-SiC/Si基板上へのGaN膜のMOVPE成長 ~ 基板表面の窒化処理効果 ~ ○澤崎尚樹・小林隆弘・趙 明秀・橋本明弘・山本あきお(福井大)・伊藤慶文(若狭湾エネルギー研究センター) エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-165 |
抄録 |
(和) |
Si基板へのC+イオン注入により作製した3c-SiC/Si基板上にMOVPE法を用いて成長させたGaN膜は凹凸の激しい表面になる。今回、その原因解明と対応策について検討した。凹凸形成の原因は、GaNバッファが島状成長し、GaNバッファが成長していないSiC表面からGaN膜が直接成長したためである。さらに、GaNバッファ成長前に基板表面の窒化処理を導入することにより、平坦なGaN成長膜を得ることができることを明らかにした。 |
(英) |
When a MOVPE GaN film is grown on a 3c-SiC/Si template formed by C+-ion implantation into Si, the surface of the grown film becomes very rough. The reason for the roughening the surface is clarified to be due to both the island growth of GaN buffer and the direct growth of the epitaxial film at portions of the SiC surface without buffer. It is found that a GaN film with a smooth surface, comparable to that for a film grown on sapphire, can be obtained by employing a nitridation process of the template just before the GaN buffer growth. |
キーワード |
(和) |
GaN / Si / SiC / MOVPE / 窒化処理 / / / |
(英) |
GaN / Si / SiC / MOVPE / nitridation / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 394, CPM2005-165, pp. 17-20, 2005年11月. |
資料番号 |
CPM2005-165 |
発行日 |
2005-11-05 (CPM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-165 |