講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-10-20 15:50
ECC内蔵メモリマクロにおけるDFT技術 ○櫛田桂一・大塚伸朗・平林 修・武山泰久(東芝) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-130 |
抄録 |
(和) |
ECC回路を内蔵したメモリマクロにおいて、ECC搭載に伴うテストコスト増加を回避するDFT技術を開発した。新しい方式ではハミングコードのデザインを工夫することによって、標準のBIST回路のテストで全ECC内蔵メモリ回路をテストすることができる。このECC技術は90nmプロセス技術を用いた512Kb SRAMマクロに搭載され、その効果が確認された。 |
(英) |
DFT techniques to implement ECC circuitry on
memory macro with no additional test cost are
proposed. New methodology to design a hamming
code matrix is used to achieve whole ECC system
testing with standard memory BIST and conventional
test sequence. The proposed ECC techniques are
implemented in a 512Kb SRAM macro and
demonstrated by hardware characterization with 90nm
technology. |
キーワード |
(和) |
ECC / SRAM / ハミング行列 / ソフトエラー / DFT / / / |
(英) |
ECC / SRAM / Hamming code matrix / Soft error / DFT / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 351, ICD2005-130, pp. 95-100, 2005年10月. |
資料番号 |
ICD2005-130 |
発行日 |
2005-10-13 (SIP, ICD, IE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-130 |
研究会情報 |
研究会 |
SIP ICD IE IPSJ-SLDM |
開催期間 |
2005-10-20 - 2005-10-21 |
開催地(和) |
作並温泉一の坊 |
開催地(英) |
Ichinobo, Sakunami-Spa |
テーマ(和) |
プロセッサ、DSP、画像処理技術及び一般 (オーガナイザ:亀山充隆 (東北大学)) |
テーマ(英) |
Processor, DSP, Image Engineering and etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2005-10-SIP-ICD-IE-IPSJ-SLDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
ECC内蔵メモリマクロにおけるDFT技術 |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
DFT Technique for Memory Macro with Built-in ECC |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
ECC / ECC |
キーワード(2)(和/英) |
SRAM / SRAM |
キーワード(3)(和/英) |
ハミング行列 / Hamming code matrix |
キーワード(4)(和/英) |
ソフトエラー / Soft error |
キーワード(5)(和/英) |
DFT / DFT |
キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
櫛田 桂一 / Keiichi Kushida / クシダ ケイイチ |
第1著者 所属(和/英) |
(株)東芝 (略称: 東芝)
Toshba Corporation (略称: Toshiba Co.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
大塚 伸朗 / Nobuaki Otsuka / オオツカ ノブアキ |
第2著者 所属(和/英) |
(株)東芝 (略称: 東芝)
Toshba Corporation (略称: Toshiba Co.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
平林 修 / Osamu Hirabayashi / ヒラバヤシ オサム |
第3著者 所属(和/英) |
(株)東芝 (略称: 東芝)
Toshba Corporation (略称: Toshiba Co.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
武山 泰久 / Yasuhisa Takeyama / タケヤマ ヤスヒサ |
第4著者 所属(和/英) |
(株)東芝 (略称: 東芝)
Toshba Corporation (略称: Toshiba Co.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2005-10-20 15:50:00 |
発表時間 |
20分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
SIP2005-111, ICD2005-130, IE2005-75 |
巻番号(vol) |
vol.105 |
号番号(no) |
no.349(SIP), no.351(ICD), no.353(IE) |
ページ範囲 |
pp.95-100 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2005-10-13 (SIP, ICD, IE) |