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講演抄録/キーワード
講演名 2005-09-09 13:50
Measurement of Inner-chip Variation and Signal Integrity By a 90-nm Large-scale TEG
Masaharu YamamotoSTARC)・Yayoi HayasiHitoshi EndoHitachi ULSI)・Hiroo MasudaSTARCエレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-103 ICD2005-113
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文献情報 信学技報, vol. 105, no. 268, ICD2005-113, pp. 41-46, 2005年9月.
資料番号 ICD2005-113 
発行日 2005-09-02 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-103 ICD2005-113

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-09-08 - 2005-09-09 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術 (オーガナイザ: 大塚寛治(明星大学)) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-09-ICD-CPM 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurement of Inner-chip Variation and Signal Integrity By a 90-nm Large-scale TEG 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 雅晴 / Masaharu Yamamoto / ヤマモト マサハル
第1著者 所属(和/英) (株)半導体理工学研究センター (略称: 半導体理工学研究センター)
Semiconductor Technology Academic Research Center (略称: STARC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 弥生 / Yayoi Hayasi / ハヤシ ヤヨイ
第2著者 所属(和/英) (株)日立超LSIシステムズ (略称: 日立超LSIシステムズ)
Hitach ULSI Systems Co., Ltd. (略称: Hitachi ULSI)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠藤 均 / Hitoshi Endo / エンドウ ヒトシ
第3著者 所属(和/英) (株)日立超LSIシステムズ (略称: 日立超LSIシステムズ)
Hitach ULSI Systems Co., Ltd. (略称: Hitachi ULSI)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 弘生 / Hiroo Masuda / マスダ ヒロオ
第4著者 所属(和/英) 株)半導体理工学研究センター (略称: 半導体理工学研究センター)
Semiconductor Technology Academic Research Center (略称: STARC)
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講演者
発表日時 2005-09-09 13:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2005-103,IEICE-ICD2005-113 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.266(CPM), no.268(ICD) 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPM-2005-09-02,IEICE-ICD-2005-09-02 


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