講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-09-09 13:50
Measurement of Inner-chip Variation and Signal Integrity By a 90-nm Large-scale TEG ○Masaharu Yamamoto(STARC)・Yayoi Hayasi・Hitoshi Endo(Hitachi ULSI)・Hiroo Masuda(STARC) エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-103 ICD2005-113 |
抄録 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 268, ICD2005-113, pp. 41-46, 2005年9月. |
資料番号 |
ICD2005-113 |
発行日 |
2005-09-02 (CPM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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