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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2005-09-08 11:20 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） エレソ技報アーカイブへのリンク：  CPM2005-89 ICD2005-99 |
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| 抄録 | （和） | 近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテストベクトル数に依存するため， テストベクトルを削減することが重要である． 本稿では，組合せ回路および順序回路に対して， 故障診断のためのテストベクトル数を削減するテスト圧縮法を提案する． ここでは，与えられたテスト集合またはテスト系列に対して， 区別される故障ペア数を減少させることなく，テストベクトル数を削減する． 故障ペア数は故障数の2乗に比例するため，大規模回路においてそれは膨大な数となる． そこで提案法では発見的手法を用いて，一度に取り扱う故障ペア数を減少させることによって，大規模回路においてもテストベクトル削減を可能にする． 提案法の有効性は，ISCASベンチマーク回路に対する実験の結果によって示される． |
| （英） | Recently, it is getting important to reduce the cost of test and fault diagnosis. Since the cost of test and fault diagnosis depends on the number of test vectors, test vectors must be compacted. This paper presents a method for compacting diagnostic test sets or test sequences for combinational and sequential circuits. The proposed methods reduce the number of test vectors while maintaining the original diagnostic capability. In order to compact diagnostic test vectors, we must take care of a large number of fault pairs, which is the square number of faults. The proposed methods introduce heuristics to reduce the number of fault pairs that are handled at one time. The effectiveness of the proposed methods are shown by experimental results for ISCAS benchmark circuits. |
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| キーワード | （和） | 故障診断 / テスト圧縮 / 組合せ回路 / 順序回路 / / / / |
| （英） | fault diagnosis / test compaction / combinational circuit / sequential circuit / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 105, no. 267, ICD2005-99, pp. 25-30, 2005年9月. | |
| 資料番号 | ICD2005-99 | |
| 発行日 | 2005-09-01 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2005-89 ICD2005-99 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPM |
| 開催期間 | 2005-09-08 - 2005-09-09 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術 (オーガナイザ： 大塚寛治(明星大学)) |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2005-09-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnostic Test Compaction for Combinational and Sequential Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | テスト圧縮 / test compaction |
| キーワード(3)（和/英） | 組合せ回路 / combinational circuit |
| キーワード(4)（和/英） | 順序回路 / sequential circuit |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | Kewal K Saluja / Kewal K Saluja / * * |
| 第2著者 所属（和/英） | University of Wisconsin (略称： Univ. of Wisconsin-madision) University of Wisconsin (略称： Univ. of Wisconsin) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 真也 / Shin-ya Kobayashi / コバヤシ シンヤ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2005-09-08 11:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2005-89, ICD2005-99 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | no.265(CPM), no.267(ICD) |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2005-09-01 (CPM, ICD) |
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