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講演抄録/キーワード
講演名 2005-08-19 13:00
MTJ抵抗比による電圧センス型1T2MTJ MRAM
青木正樹岩佐 拓佐藤嘉洋富士通研エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2005-150 ICD2005-89
抄録 (和) 我々は、1つのトランジスタと2つのMTJ素子(1T2MTJ)を組み合わせて1つのメモリセルとするMRAMの新しい回路方式を提案する。このMRAMは2つのMTJ素子の抵抗の比をダイレクトに電圧で読むことができる。本回路方式は、定電圧リファレンスと折り返しビット線のセルアレイ構成を用いることが可能になり、読み出し動作が安定する。2つのMTJ素子を直列接続して、メモリセル動作を実証した。また、センス回路のSPICEシミュレーション結果を示す。 
(英) We propose a new scalable MRAM cell that consists of one transistor (1T) and two magnetic tunnel junctions (2MTJ), and can sense voltage directly divided with resistance ratio of 2MTJ. This circuit scheme enables to use folded bit line architecture with fixed reference voltage resulting into stable operation. The cell operations are demonstrated using SPICE simulations based on the measured characteristics of the series connected two magnetic tunnel junctions.
キーワード (和) MRAM / MTJ / センス回路 / 1T2MTJセル / 電圧センス方式 / 抵抗比 / /  
(英) MRAM / MTJ / Sense Circuits / 1T2MTJ Cell / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 235, ICD2005-89, pp. 43-48, 2005年8月.
資料番号 ICD2005-89 
発行日 2005-08-12 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2005-150 ICD2005-89

研究会情報
研究会 ICD SDM  
開催期間 2005-08-18 - 2005-08-19 
開催地(和) 函館国際ホテル 
開催地(英) HAKODATE KOKUSAI HOTEL 
テーマ(和) VLSI回路、デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力) オーガナイザ 中央大学 榎本忠儀 
テーマ(英) VLSI Circuits, Device Technologies (High Speed, Low Voltage, Low Power), etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-08-ICD-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) MTJ抵抗比による電圧センス型1T2MTJ MRAM 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Novel Voltage Sensing 1T/2MTJ Cell with Resistance Ratio for Highly Stable and Scalable MRAM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) MRAM / MRAM  
キーワード(2)(和/英) MTJ / MTJ  
キーワード(3)(和/英) センス回路 / Sense Circuits  
キーワード(4)(和/英) 1T2MTJセル / 1T2MTJ Cell  
キーワード(5)(和/英) 電圧センス方式 /  
キーワード(6)(和/英) 抵抗比 /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 正樹 / Masaki Aoki / アオキ マサキ
第1著者 所属(和/英) (株)富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu Lab)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩佐 拓 / Hiroshi Iwasa / イワサ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) (株)富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu Lab)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 嘉洋 / Yoshihiro Sato / サトウ ヨシヒロ
第3著者 所属(和/英) (株)富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu Lab)
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講演者
発表日時 2005-08-19 13:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-SDM2005-150,IEICE-ICD2005-89 
巻番号(vol) IEICE-105 
号番号(no) no.233(SDM), no.235(ICD) 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SDM-2005-08-12,IEICE-ICD-2005-08-12 


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