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講演抄録/キーワード
講演名 2005-08-19 15:15
[パネルディスカッション] ゲートリークの救世主、それはHigh-k!
榎本忠儀中大)・○高柳万里子東芝)・佐藤成生富士通)・新居浩二ルネサステクノロジ)・西山 彰東芝)・長谷 卓NEC)・濱田基嗣東芝)・由上二郎ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2005-155 ICD2005-94
抄録 (和) (事前公開アブストラクト) Hi-K技術のパネル討論会 
(英) (Advance abstract in Japanese is available)
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文献情報 信学技報, vol. 105, no. 235, ICD2005-94, pp. 73-78, 2005年8月.
資料番号 ICD2005-94 
発行日 2005-08-12 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2005-155 ICD2005-94

研究会情報
研究会 ICD SDM  
開催期間 2005-08-18 - 2005-08-19 
開催地(和) 函館国際ホテル 
開催地(英) HAKODATE KOKUSAI HOTEL 
テーマ(和) VLSI回路、デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力) オーガナイザ 中央大学 榎本忠儀 
テーマ(英) VLSI Circuits, Device Technologies (High Speed, Low Voltage, Low Power), etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-08-ICD-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) [パネルディスカッション] ゲートリークの救世主、それはHigh-k! 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High-k; Last Card for the Leakage Currents 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 榎本 忠儀 / Tadayoshi Enomoto / エノモト タダヨシ
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo Univ. (略称: Chuo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高柳 万里子 / Mariko Takayanagi / タカヤナギ マリコ
第2著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba (略称: Toshiba)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 成生 / Shigeo Satoh / サトウ シゲオ
第3著者 所属(和/英) 富士通 (略称: 富士通)
Fujitu (略称: Fujitu)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 新居 浩二 / Koji Nii / ニイ コウジ
第4著者 所属(和/英) ルネサス (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas (略称: Renesas)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 西山 彰 / Akira Nishiyama / シヤマ アキクニ
第5著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba (略称: Toshiba)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 長谷 卓 / ハセ タカシ / Takashi Hase
第6著者 所属(和/英) NEC (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱田 基嗣 / Mototsugu Hamada / ハマダ モトツグ
第7著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
Toshiba (略称: Toshiba)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 由上 二郎 / Jiro Yugami / ユガミ ジロウ
第8著者 所属(和/英) ルネサス (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas (略称: Renesas)
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講演者 第2著者 
発表日時 2005-08-19 15:15:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 SDM2005-155, ICD2005-94 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.233(SDM), no.235(ICD) 
ページ範囲 pp.73-78 
ページ数
発行日 2005-08-12 (SDM, ICD) 


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